[发明专利]光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质

说明书

技术领域

本公开涉及读取记录在诸如CD、DVD和蓝光盘(注册商标)之类的光盘介质中的信息的光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质。

背景技术

近年来，各种类型光盘介质用作信息记录介质。为了读取记录在这种光盘介质中的信息，使用光盘设备。光盘设备包括将光聚焦在光盘介质上的物镜(objective lens)。光盘设备接收通过光盘介质由物镜聚焦的光的反射获得的反射光，以由此读取记录在光盘介质中的信息。

当光盘设备读取来自光盘介质的信息时，需要实施物镜的球面像差校正。例如，在光拾取器中，提供准直器透镜以校正将光聚焦在光盘介质上的物镜的球面像差。通过适当调整该准直器透镜的位置，可以校正物镜的球面像差，并且可以以高精确度将来自物镜的光聚焦在光盘介质上。

光盘设备内部地将准直器透镜的位置管理为称为SA参数的参数值。该SA参数的最优值依赖于作为读取目标的光盘介质的类型、个体差异等改变。因此，当在光盘设备中重新设置光盘介质时，该设备在开始信息的读取之前执行SA参数的调整处理(例如参考日本专利特开第2003-16660号)。该调整处理是以下控制。具体地，首先，光盘设备在可设置范围中改变SA参数的设置值。另外，光盘设备试图在其中设置不同设置值的三种或者更多种状态中的每个状态下从介质读取信息，并且在那时评估信息读取的精确度。然后，光盘设备计算这种SA参数的设置值，以通过使用与多个设置值的每个对应获得的读取精确度的评估值，允许增强信息读取的精确度，并且将该计算出的值设置为SA参数的值。

发明内容

SA参数的最优值不仅仅由光盘介质的个体差异确定。例如，即使利用相同的光盘介质，SA参数的最优值在光盘介质具有多个数据记录层的情况下，对于每个数据记录层不同。另外，由于物镜的温度依赖特性，SA参数的最优值在使用期间也依赖于光盘设备的温度改变而改变。因此，光盘设备应当在不同类型的定时(诸如当改变作为读取目标的数据记录层时)重新计算SA参数的最优值。然而，采用一定量的时间来执行类似上面描述那样的SA参数的调整处理。因此，迫使用户在每次改变作为读取目标的数据记录层时和在其它场合下等待是否执行调整处理。

已经鉴于以上问题作出本公开。需要本公开提供可以以比较短的时间执行物镜的球面像差校正的光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质。

根据本公开的实施例，提供一种读取光盘介质中记录的信息的光盘设备。该光盘设备包括：物镜，配置为将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，配置为根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；以及评估值测量部分，配置为测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。该光盘设备还包括控制部分，配置为执行这样的调整处理，在该调整处理中，控制部分与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量，并且基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。

根据本公开的另一实施例，提供光盘设备的控制方法，该光盘设备包括：物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。该控制方法包括：与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。

根据本公开的另一实施例，提供控制光盘设备的程序，该光盘设备包括：物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。用于计算机的该程序包括：与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。

根据本公开的另一实施例，提供用于程序的计算机可读信息存储介质，包括控制光盘设备的程序，该光盘设备包括物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。用于计算机的该程序包括：与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。

附图说明

图1是示出根据本公开实施例的光盘设备的配置示例的框图；