[发明专利]一种无损检测梨的硬度方法

权利要求书

1.一种无损检测梨的硬度方法，其特征在于，通过可见-近红外波段的高光谱成像系统测得多个不同种类的梨的高光谱图像，再通过黑白版校正，将高光谱图像中每一点的光谱响应强度转换成统一的0-100%的反射率图像，再通过Labview软件对图像的亮度进行提取和着色，将不同的亮度区域区分开，然后在同一颜色区域选取10个不同的点求平均代表整个梨的反射率，结合梨的反射率曲线提取每一波段的反射率信息通过主成分分析PCA提取特征波段，通过国家标准方法测得的梨的硬度的实际值，再用偏最小二乘法PLS算法建立回归模型，得到各种类梨的回归方程，根据回归方程，便可通过测量所测梨的光谱图，计算出所测梨的硬度。

2.根据权利要求1所述无损检测梨的硬度方法，其特征在于，所述黑白版校正过程为：将反射率高达99.99的聚四氟乙烯的白板放在高光谱相机的聚焦透镜焦平面处，改变曝光时间使相机接收光强在最大光强的80%，记下白板反射强度W，将聚焦透镜用黑板封闭，记下黑板反射强度B1，测完后放回样品，调节曝光时间使得相机接收光强为最大光强的80%，再用黑板封闭透镜，记下样品黑板反射强度B2，通过电机载着样品匀速移动实现样品的全扫描，最终测得样品反射强度为S，则带入校正公式：光谱反射率R=(S-B2/W-B1)x100%，实现黑白板校正。