[发明专利]测试单元、阵列基板及其制造方法、显示面板和显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板的制造领域，具体地，涉及一种测试单元、一种包括该测试单元的阵列基板、该阵列基板的制造方法、一种包括所述阵列基板的显示面板和该显示面板的显示装置。

背景技术

现在，人们对高分辨率的显示器的需求越来越高。显示器分辨率越高意味着该显示器的显示面板内的像素个数越多，而像素个数越多则对生产显示面板的工艺能力的要求也越来越高，相应地，对工艺能力的检测时效性与即时性的需求也需要提高，现有检测技术通常都为制作完成后进行检测并分析产生不良的可能的工艺设备的原因，进而对工艺能力和设备进行评价并调整后续制作时的工艺参数，这种检测技术时效性和及时性差，造成的损失较大。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试单元、一种包括该测试单元的阵列基板、该阵列基板的制造方法、和一种包括所述阵列基板的显示面板和该显示面板的显示装置。所述测试单元能够在制造阵列基板时进行全面的检测。

为了实现上述目的，作为本发明的第一个方面，提供一种测试单元，其中，所述测试单元包括至少一层测试图形，每层所述测试图形包括多条宽度互不相同且互相间隔的测试线。

优选地，一层所述测试图形包括至少3条互相平行的测试线，且多条所述测试线之间的形成的间隔互不相同。

优选地，所述测试单元包括多层测试图形，且不同层的测试图形之间设置有间隔层。

优选地，所述测试单元包括两层测试图形，各层所述测试图形中包括的所述测试线的条数相同，且两层所述测试图形中的测试线通过间隔层中的过孔一一对应地连接，上一层所述测试图形中的测试线在下一层所述测试图形上的投影与下一层所述测试图形中的测试线相交叉。

优选地，在相邻两层所述测试图形中：

位于下层所述测试图形还包括多个测试块，位于下层的所述测试图形中每条测试线的一端均设置有一个所述测试块，相邻两条所述测试线的测试块位于所述测试图形的不同侧；

位于上层的所述测试图形还包括多个测试框，多个所述测试框在下层所述测试图形的投影分别位于多个所述测试块的外侧，且所述测试框的投影与所述测试块的侧边相间隔。

优选地，所述测试框形成有开口部，该开口部在下层所述测试图形上的投影对应于所述测试块与所述测试线相连的部分。

优选地，多个所述过孔的孔径互不相同。

优选地，每层所述测试图形都包括四条所述测试线，相邻两层所述测试图形之间设置有四个所述过孔。

优选地下层的所述测试图形由半导体材料制成，上层的所述测试图形由金属材料制成；或者

下层的所述测试图形由金属材料制成，上层的所述测试图形也由金属材料制成；或者

下层的所述测试图形由金属材料制成，上层的所述测试图形由透明电极材料制成。

作为本发明的第二个方面，提供一种阵列基板，该阵列基板包括显示区和环绕该显示区设置的非显示区，所述非显示区内设置有至少一个测试单元，所述显示区内设置有多条数据线、多条栅线、多个薄膜晶体管和多个像素电极，其中，所述测试单元为本发明所提供的上述测试单元。

优选地，所述薄膜晶体管为顶栅型薄膜晶体管，

多个所述测试单元中的至少一个包括两层所述测试图形，下层的所述测试图形由半导体材料制成，且与所述阵列基板的有源层同层设置，上层的所述测试图形由金属材料制成，且与所述阵列基板的数据线同层设置；和/或

多个所述测试单元中的至少一个包括两层所述测试图形，下层的所述测试图形由金属材料制成，且与所述阵列基板的数据线同层设置，上层的所述测试图形由金属材料制成，且与所述阵列基板的栅线同层设置；和/或

多个所述测试单元中的至少一个包括两层所述测试图形，下层的所述测试图形由金属材料制成，且与所述阵列基板的数据线同层设置，上层的所述测试图形由透明电极材料制成，且与所述阵列基板的像素电极同层设置。

作为本发明的第三个方面，提供一种显示面板，该显示面板包括阵列基板，其中，所述阵列基板为本发明所提供的上述阵列基板。

作为本发明的第四个方面，提供一种显示装置，该显示装置包括显示面板，其中，所述显示面板为本发明所提供的上述显示面板。

作为本发明的第五个方面，提供一种阵列基板的制造方法，该阵列基板包括显示区和环绕该显示区设置的非显示区，所述制造方法包括：

在所述显示区内形成多层显示图形；其中，所述制造方法还包括：

至少在形成一层所述显示图形时，在所述非显示区形成测试图形，所述测试图形为本发明所提供的上述测试图形；