[发明专利]IC卡扭曲测试装置有效
| 申请号: | 201410585017.8 | 申请日: | 2014-10-27 |
| 公开(公告)号: | CN105628524B | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
| 发明(设计)人: | 王顺仁 | 申请(专利权)人: | 航天信息股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N3/32 | 分类号: | G01N3/32 |
| 代理公司: | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人: | 黄晓军 |
| 地址: | 100195 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | ic 扭曲 测试 装置 | ||
本发明实施例提供了一种IC卡扭曲测试装置。该装置主要包括:两个相对摆放的组合装置,每个组合装置上设置有一个IC卡测试架,每个IC卡测试架上设置有至少一个传送轮,每个IC卡测试架分别通过传动轴和扭曲转动的电机连接;将IC卡设置在两个组合装置上的两个IC卡测试架上的传送轮之间,两个扭曲转动的电机向相反方向转动一定的角度,两个扭曲转动的电机通过传动轴带动两个IC卡测试架向相反方向转动同样的角度,从而使IC卡扭曲相同的角度。本发明实施例的装置实现了IC卡进行传送的功能和IC卡扭曲测试功能,既能实现对IC卡批量测试,又能对IC卡进行扭曲疲劳压力测试,通过改变电机转动角度、方向参数实现改变IC卡的扭曲量和扭曲方向。
技术领域
本发明涉及IC卡(Integrated Circuit Card,集成电路卡)测试技术领域,尤其涉及一种IC卡扭曲测试装置。
背景技术
IC卡在我们的生活中使用越来越普遍,使用数量越来越大,但是在使用过程中,经常出现IC卡使用一段时间后不能继续使用的现象。对损坏后返回的IC卡进行分析,除去人为损坏的IC卡,大部分是芯片虚接、虚焊或线圈变形造成线与线之间虚接,造成IC卡使用一段时间后出现不能继续使用的现象。
目前,现有技术中的一种IC卡扭曲测试方法为:将IC卡放在两个卡槽中,通过两个卡槽之间相对偏移迫使IC卡扭曲变形,扭曲测试设备卡槽之间的相对偏转量确定IC卡扭曲量的大小。
上述现有技术中的IC卡扭曲测试方法的缺点为:卡扭曲量是设计时就确定好的不能改变,测试效率很低,并且是破坏性测试,测试后就不能在成为产品出厂。该方法对IC卡在生产过程中和出厂前进行抽样测试,但是不能对批量生产的IC卡进行在线批量测试。由于IC卡每天产量非常大,该方法已经不能满足现代化生产的技术要求。
发明内容
本发明的实施例提供了一种IC卡扭曲测试装置,以实现对IC卡进行有效的扭曲测试。
本发明提供了如下方案:
一种IC卡扭曲测试装置,包括:两个相对摆放的组合装置,每个组合装置上设置有一个IC卡测试架,每个IC卡测试架上设置有至少一个传送轮,每个IC卡测试架分别通过传动轴和扭曲转动的电机连接;
将IC卡设置在两个组合装置上的两个IC卡测试架上的传送轮之间,两个扭曲转动的电机向相反方向转动一定的角度,所述两个扭曲转动的电机通过传动轴带动两个IC卡测试架向相反方向转动同样的角度,从而使所述IC卡扭曲相同的角度。
每个IC卡测试架上设置有使传送轮转动的传送电机,两个IC卡测试固定架上的传送电机向相同方向同步转动,所述传送电机通过传动装置带动传送轮转动,所述传送轮通过摩擦力带动IC卡水平移动。
每个IC卡测试架上安装的传送轮和传送电机之间的传动装置为齿轮传动方式或皮带传送方式。
所述两个IC卡测试架上设置的传送轮的位置结构相同,两个IC卡测试架上设置的相对位置的传送轮组成一对传送轮对。
所述传送轮对的数量为多个,每对传送轮对之间上下垂直摆放。
在每个传送轮中间有能使IC卡通过并对IC卡有微力夹紧功能的间隙,所述IC卡通过该间隙和传送轮接触。
IC卡与传送轮的接触点为以扭曲转动的电机为圆心的同心圆,从而使IC卡两边扭曲量和扭曲角度一致。
所述两个组合装置、扭曲转动的电机都安装在支架上。
所述两个IC卡测试架通过传动装置和所述支架连接。
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