[发明专利]辅助制动用常开电磁阀测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 201410557085.3 申请日: 2014-10-20
公开(公告)号: CN104458161A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 张致兴;吴志强;刘伟;梁江海;贾勇 申请(专利权)人: 浙江万向精工有限公司;万向集团公司
主分类号: G01M3/28 分类号: G01M3/28;G01M13/00
代理公司: 浙江英普律师事务所 33238 代理人: 王广
地址: 311202 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 辅助 制动 常开 电磁阀 测试 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及常开电磁阀测试装置及测试方法,尤其涉及了一种辅助制动用常开电磁阀测试装置及测试方法。

背景技术

目前,大多数在测试辅助制动用的电磁阀时,采用的都是采用液压模拟测试的方式来进行测试,但是在液压模拟测试时,会出现灵敏度低等问题,导致电磁阀不容易配对,因此,需要研究出一种新的测试方式,不仅使得电磁阀配对容易,并且在测试的过程中易于操作。

发明内容

本发明针对现有技术中电磁阀不易配对,并且灵敏度低等缺点,提供了一种辅助制动用常开电磁阀测试装置及测试方法。

为了解决上述技术问题,本发明通过下述技术方案得以解决:

一种辅助制动用常开电磁阀测试装置,包括依次串接的第一气阀、第三气阀、第五气阀、待测件,还包括差压传感器,差压传感器分别连接第一排气阀与第四气阀,第四气阀连接待测件,差压传感器与第四气阀连通的管路分别与第三气阀以及第五气阀连通,在第一气阀与第三气阀之间并联第二气阀,第二气阀连接第一标准容积块,待测件通过排气管分别连接第二排气阀、压力传感器以及第二标准容积块。在此,第五气阀的作用是为了测试待测件中的唇形密封圈。

作为优选,所述第四气阀通过第一进气管连接待测件。

作为优选,所述第五气阀通过第二进气管连接待测件。

作为优选,所述待测件为常开电磁阀或常闭电磁阀。

作为优选,所述待测件设有基座,基座内设有增压阀,增压阀内设有阀针,增压阀上端设有线圈,增压阀与基座之间设有密封圈,基座上设有分别设有第一进气口、第二进气口以及排气口。增压阀有两处密封:阀针口处密封及密封圈密封,在此,选用了唇形密封圈密封,而在此,唇形需对两处进行泄漏测试。

作为优选,增压阀底端环绕设有密封垫,所述密封垫设置在增压阀与基座之间。密封垫是为了将进气位置分割开。

作为优选,所述第一进气口与第一进气管连通。

作为优选,所述第二进气口与第二进气管连通。

作为优选,所述排气口与所述排气管连通。

一种辅助制动用常开电磁阀测试装置实现的测试方法,包括:

S1将辅助制动用常开电磁阀测试装置安装固定好,其中也包括待测件样件;

S2对待测件进行检测:

阀针泄漏测试:对待测件通电,对第一气阀、第二气阀、第三气阀、第四气阀以及第二排气阀通电,整个测试装置从气源充设定压力的气体,然后切断第一气阀、第二气阀、第三气阀,通过标定后的差压传感器对待测件的阀针进行阀针泄漏测试,最大泄漏量不超过之前的设定气体值;然后将第一排气阀与第二排气阀打开进行排气;

密封圈泄漏测试:对第一气阀、第二气阀、第三气阀、第五气阀以及第二排气阀通电,整个测试装置从气源充设定压力的气体,然后切断第一气阀、第二气阀与第三气阀,通过标定后的差压传感器对待测件的密封圈泄漏进行测试,最大泄漏量不超过设定值;然后将第一排气阀与第二排气阀打开进行排气;

流通能力测试:对待测件通电,对第一气阀、第二气阀、第三气阀、第四气阀以及第二排气阀通电,预先设定好时间,然后按设定时间对待测件的线圈进行保持、断电、通电控制,通过压力传感器测定几个周期中电磁阀后端压力升情况,从而判定电磁阀的流通能力;然后将第一排气阀与第二排气阀打开进行排气;

响应时间测试:对待测件通电,对第一气阀、第二气阀、第三气阀以及第四气阀通电,整个测试装置从气源充设定压力的气体,待测件再断电,测定待测件的排气口压力上升到一定值的时间,从而测定待测件的响应时间。在此,第三气阀的作用是保持差压传感器两侧压力相同。

本发明由于采用了以上技术方案,具有显著的技术效果:

本发明采用气阀等组成一个完整的辅助制动用的常开电磁阀的测试装置及测试方法,在整个装置中,没有采用油压等条件对待测件进行测试,而是采用气源通过气阀、排气阀以及压力传感器与差压传感器等对待测件进行测试,使得待测件一直保持干式状态,待测件在保持干式状态下时,灵敏度高并且便于配对。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的整体结构图;

图2是图1的待测件的示意图。

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