[发明专利]一种显示基板及具有该显示基板的显示装置在审
| 申请号: | 201410553332.2 | 申请日: | 2014-10-17 |
| 公开(公告)号: | CN104267544A | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
| 发明(设计)人: | 李佳;卢昱;单庆增;张惠博;郝金刚 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/1339 | 分类号: | G02F1/1339 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 显示 具有 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示基板及具有该显示基板的显示装置。
背景技术
TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示屏)由薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)阵列基板和彩膜(Color Filter,CF)基板对盒而成,TFT基板和CF基板之间填充有液晶,通过控制TFT基板上的电压变化来驱动液晶的偏转,从而达到输出不同画面的要求。在成盒工艺中,最重要的一步就是对盒(Cell)技术,即将TFT基板和CF基板按照设计要求,在精度范围内完成对盒。请参考图1,图1为TFT基板101和CF基板102的对盒示意图。而对盒工艺中起到最重要作用,也是最关键部分的是用来对位的对位标识(Mark)103。若对位标识103出现问题,例如在TFT基板的摩擦取向过程中因TFT基板上的微小残留颗粒堆积而在对位标识的边缘处形成锯齿状残留,对盒必将无法准确完成,从而造成TFT-LCD出现各种不良,如Mura类不良,Zara类不良等。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种显示基板及具有该显示基板的显示装置,以解决在显示基板的摩擦取向过程中因显示基板上的微小残留颗粒堆积而在对位标识的边缘处形成锯齿状残留,导致显示基板对位不准的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种显示基板,包括:位于所述显示基板的对位区域的对位标识;其特征在于,还包括:位于所述对位标识周边预设区域的阻隔结构,所述阻隔结构用于阻挡摩擦取向辊摩擦取向时携带的残留颗粒。
优选地,所述阻隔结构为沟壑状。
优选地,所述阻隔结构包括:多个平行间隔设置的线状凸起。
优选地,所述阻隔结构还包括:将所述对位标识围住的矩形框凸起,所述线状凸起位于所述矩形框凸起内。
优选地,在从远离所述对位标识至靠近所述对位标识的方向上,所述多个线状凸起的长度逐渐变短。
优选地,所述线状凸起的延伸方向与所述摩擦取向辊的前进方向垂直。
优选地,所述阻隔结构包括:多个呈同心分布的圆圈状凸起,所述对位标识位于所述多个圆圈状凸起的圆心区域。
优选地,所述阻隔结构包括:多个间隔设置的锯齿状凸起。
优选地,所述阻隔结构与所述对位标识具有相同的膜层结构。
优选地,所述阻隔结构包括至少一层金属层和用于覆盖所述金属层的绝缘层。
本发明还提供一种显示装置,包括上述显示基板。
本发明的上述技术方案的有益效果如下:
在对位标识周边预设区域形成阻隔结构,阻隔结构能够将摩擦取向辊摩擦取向时携带的残留ITO等微小颗粒提前堆积在所述阻隔结构中,而不影响对位标识的样貌,从而避免对位标识样貌改变而导致的对位模糊或对位偏移的问题,使设备顺利识别对位标识,完成显示基板之间的对盒,大幅提高了生产的稳定性与效率,节约了成本。
附图说明
图1为现有的TFT基板和CF基板上的对位标识的分布示意图;
图2为现有的TFT基板上的对位标识的放大俯视图;
图3为完美生产环境下TFT基板无ITO微小残留颗粒时对位标识的截面示意图;
图4为TFT基板有ITO微小残留颗粒时对位标识的截面示意图;
图5为现有的摩擦取向过程示意图;
图6为摩擦取向过程中ITO残留颗粒堆积产生过程示意图;
图7为正常的对位标识(左)和具有锯齿状残留的对位标识的比较示意图;
图8为本发明实施例的显示基板的截面图;
图9为本发明实施例的阻隔结构对微小残留颗粒的阻隔效果示意图;
图10为本发明实施例一的阻隔结构的俯视图;
图11为本发明实施例二的阻隔结构的俯视图;
图12为本发明实施例三的阻隔结构的俯视图;
图13为本发明实施例四的阻隔结构的俯视图;
图14为本发明实施例五的阻隔结构的俯视图。
附图标识说明
图1-7
101 TFT基板
102 CF基板
103 对位标识
301 衬底
302 金属层
303 绝缘层
401 残留的ITO微小颗粒
501 摩擦取向辊
图8-14
801 衬底
802 对位标识
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