[发明专利]一种N型双面电池的湿法刻蚀方法在审
| 申请号: | 201410525546.9 | 申请日: | 2014-10-08 |
| 公开(公告)号: | CN105576074A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
| 发明(设计)人: | 郑飞;张忠卫;石磊;阮忠立;赵晨;赵钰雪 | 申请(专利权)人: | 上海神舟新能源发展有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C30B33/10 |
| 代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 林君如 |
| 地址: | 201112 上海市闵行*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 双面 电池 湿法 刻蚀 方法 | ||
技术领域
本发明属于太阳电池技术领域,尤其是涉及一种N型双面电池的湿法刻蚀 方法。
背景技术
N型硅片是指硅片中掺入磷。由于N型硅片具有较长的少数载流子寿命, 因此做成太阳电池可以获得更高的光电转换效率,近些年N型太阳电池越来越 受到关注。另外,N型电池对金属污染的容忍度更强,具有更好的忍耐性能, 稳定性强,且N型硅片中掺入的是磷,没有硼-氧对,不存在光致衰减效应, 由于N型晶体硅的这些优点,使得N型硅片非常适合制作高效的太阳电池。N 型双面电池制作通常的工艺流程为:N型硅片经过表面织构化处理后;经过高 温硼扩散后在硅片正面形成PN结;刻蚀去除硅片边缘和背面PN结;背面磷 扩散制作N+层;双面沉积减反膜;双面印刷后烧结,最后制得N型双面太阳 电池。从上述双面电池工艺过程中可以看出,刻蚀是至关重要的步骤,因为N 型双面电池的正面有硼扩散,而背面是磷扩散,不做好边缘PN结绝缘,将导 致电池的边缘漏电,严重影响电池的电性能表现。目前双面电池的刻蚀方法有 等离子刻蚀和激光刻蚀等方法,但上述两种方法都存在一定的弊端,等离子刻 蚀的缺点是存在边缘PN结去除不彻底和机台刻蚀效果不稳定的问题;而激光 刻蚀由于设备特点,刻蚀过程会一定程度导致电池的受光面积减少,从而降低 双面电池的光电转换效率。
发明内容
本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种增加硅 片背面的抛光效果,增加背面的钝化作用,提升电池转换效率的N型双面电池 的湿法刻蚀方法。
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:
一种N型双面电池的湿法刻蚀方法,采用以下步骤:
(1)N型硅片经表面织构化,硼扩散制备PN结后,经混酸刻蚀边缘及背 面,然后进行第一次纯水洗、碱洗、第二次纯水洗、混酸洗,第三次纯水洗, 风干;
(2)在硅片正面覆盖水膜,然后经过混酸处理,再经过第四次纯水洗、 碱洗、第五次纯水洗、混酸洗、第六次纯水洗、风干后,完成对N型双面电池 的刻蚀。
步骤(1)中刻蚀N型硅片的混酸为HF、HNO3和H2SO4按体积比为 1∶2∶1~1∶10∶5构成的混合溶液,其中HF的浓度为49wt%,H2SO4的浓度为 99wt%,HNO3的浓度为70wt%,碱洗采用浓度为0.5~15wt%的强碱性溶液,包 括氢氧化钠或氢氧化钾溶液,混酸洗采用的混酸溶液为HF和HCl按体积比为 0.1~10构成的混合溶液,其中HF的浓度为49wt%,HCl的浓度为37wt%。
步骤(2)中采用纯水在硅片正面覆盖水膜,该水膜完全覆盖硅片的正面, 处理硅片的混酸为HF和HNO3按体积比为0.1~10构成的混合溶液,其中HF 的浓度为49wt%,HNO3的浓度为70wt%,碱洗采用浓度为0.5~15wt%的强碱 性溶液,包括氢氧化钠、氢氧化钾或碳酸钠溶液,混酸洗采用的混酸溶液为HCl 和HF按体积比为0.1~10构成的混合溶液,其中HF的浓度为49wt%,HCl的 浓度为37wt%。
在实施时,步骤(1)及步骤(2)可以单独实施或重复实施,对N型双面 电池进行湿法刻蚀,另外,步骤(1)及步骤(2)在一起实施时还可以更换先 后顺序。
与现有技术相比,本发明是在保证电池效率不降低的前提下,解决N型双 面电池边缘漏电的问题,通过两次同时运用HNO3的氧化作用及HF的腐蚀作 用来实现本发明的目的。且步骤(2)中的混酸腐蚀液可以进一步改善背面抛 光钝化的作用,进而提升N型双面电池的光电转化效率。本发明中两个步骤可 以独立作为N型双面电池的湿法刻蚀的方案进行实施,更可以结合在一起进行 实施,以获得更好的湿法刻蚀效果。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。
实施例1
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海神舟新能源发展有限公司,未经上海神舟新能源发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410525546.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





