[发明专利]测定装置、测定方法及机械装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测定装置、测定方法及机械装置。

背景技术

在专利文献1中记载了一种杂质微粒测定技术，该杂质微粒测定技术的特征在于，具备：发光二极管，其对用于供期望流体流动的流路照射光；两个受光元件，其沿着流体的流路方向分离配置，对因光的照射而形成的流路的透射光进行检测；检测部，其根据各受光元件的差动输出来检测在流路中流动的杂质微粒的量。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2013-142626号公报

液体中含有的微粒的量并不局限于在静态环境下测定。在利用专利文献1所记载的技术测定例如建筑机械或车辆等那样的、在动态环境下使用的液体中含有的微粒的量时，实际的量和测定出的量之间产生背离。

发明内容

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于，提供一种能够准确地测定在动态环境下使用的液体中含有的微粒的量的技术。

本申请包括有多个用于解决上述课题的方案，例举其中的一例，即，一种测定装置，其特征在于，该测定装置包括污染度获取部，该污染度获取部根据液体的流量、用于测定所述液体中的微粒的测定传感器的振动和所述测定传感器的气氛温度中的至少一方对来自所述测定传感器的传感器值进行补正，从而获取微粒引起的液体的污染度。

一种机械装置，其包括上述的测定装置。

一种测定方法，其特征在于，该测定方法包括：获取来自用于测定液体中的微粒的测定传感器的传感器值的步骤；

根据所述液体的流量、所述测定传感器的振动和所述测定传感器的气氛温度中的至少一方对所述传感器值进行补正，从而获取微粒引起的液体的污染度的步骤。

【发明效果】

根据本发明的技术，能够提供一种能够准确地测定在动态环境下使用的液体中含有的微粒引起的污染度的技术。通过以下的实施方式的说明来阐述上述以外的课题、结构以及效果等。

附图说明

图1为包括本实施方式的机械装置的系统的结构图。

图2为测定传感器的结构图。

图3为测定装置、管理装置、管理系统的各自的硬件结构图。

图4为测定装置获取污染度C的动作流程。

图5为通过时序表示测定装置获取的传感器值SO和液体L的流量FR的示例。

图6为通过时序表示技术1中的测定传感器所输出的传感器值SO、补正了传感器值SO得到的补正值SC、液体L的流量FR的示例。

图7为通过时序表示技术2中的测定传感器所输出的传感器值SO、由污染度获取部获取的补正值SC、液体L的流量FR的示例。

图8为通过时序表示技术3中的改变获取传感器值SO的时间间隔的示例。

图9为通过时序表示对测定传感器施加有振动的情况下的传感器值SO、未对测定传感器施加振动的情况下的传感器值SO的示例。

图10为根据测定传感器的振动条件对传感器值SO提供的偏移值的示例。

图11为通过时序表示对向测定传感器施加有振动的情况下的传感器值SO进行积分而得到的积分值、使传感器值SO偏移并进行积分而得到的积分值的示例。

图12为表示气氛温度对LED输出的影响的示例。

图13为表示技术5中的测定传感器所输出的传感器值SO、补正值SC的示例。

图14为在显示装置显示污染度C的示例。

图15为在显示装置显示污染度C的示例。

图16为在显示装置显示变数输入画面的示例。

符号说明

1 机械装置；10 测定装置；101 传感器控制部；102 污染度获取部；103 输出部；11 测定传感器；12 管理装置；121 输出部；13 通信装置；14 输出装置；151 加速度传感器；152 陀螺仪传感器；153 温度传感器；154 压力传感器；155 流量传感器；2 通信网络；3 管理系统。

具体实施方式

以下，参照附图详细说明本发明的一个实施方式。以下，为了简化说明，对具有相同结构的构件标注相同的符号并省略说明。

图1为包括本实施方式的机械装置(machinery)1的系统结构图。在此所称的机械装置1包括例如液压设备(Hydraulic device)那样的、使用液体L(后述)进行所期望的动作的机构(图示省略)。更具体而言，机械装置1为建设、土木、制造等所用的各种设备或机器人、运输等所用的车辆等、或者它们的组合。