[发明专利]一种测试电路、显示装置以及驱动电路的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路、显示装置以及驱动电路的测试方法。

背景技术

阵列基板行驱动技术(Gate Driver on Array，GOA)是直接将驱动电路制作在阵列基板上，从而代替由外接硅片制作的驱动芯片的一种工艺技术。该技术可减少工艺流程，降低工艺成本,提高液晶显示面板的集成度。

驱动电路的生产过程复杂，任何工艺出现异常都有可能使得产品出现不良，因此需要一种能够及时有效的判断驱动电路是否有效运作的测试电路。

图1为现有技术中测试电路的结构示意图。如图1所示，所述测试电路采用从最后一级栅线Line End引出导线Test Pad对所述驱动电路101进行测试。上述测试电路只能判断出所述驱动电路101整体上是否工作正常，但是无法确定出所述驱动电路工作异常的具体位置。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种测试电路、显示装置以及驱动电路的测试方法，用于解决现有技术中测试电路只能判断出驱动电路整体是否工作正常，但是无法确定出驱动电路工作异常的具体位置的问题。

为此，本发明提供一种测试电路，包括第一信号输入线、第一信号输出线以及多个第一薄膜晶体管，所述第一信号输入线与所述第一薄膜晶体管的栅极连接，所述第一信号输出线与所述第一薄膜晶体管的第一极连接，所述第一薄膜晶体管的第二极与驱动电路连接；所述第一信号输入线用于输入第一测试信号以使所述第一薄膜晶体管导通；所述第一信号输出线用于当所述第一薄膜晶体管导通时输出所述驱动电路的第一待测信号。

可选的，所述驱动电路包括多个驱动单元，每个驱动单元与对应的第一薄膜晶体管连接。

可选的，所述第一测试信号为第一脉冲信号，所述第一脉冲信号的周期为所述第一待测信号的周期的一半。

可选的，所述第一脉冲信号的脉冲幅度大于所述第一待测信号的脉冲幅度。

可选的，还包括第二信号输入线、第二信号输出线以及多个第二薄膜晶体管，所述第二信号输入线与所述第二薄膜晶体管的栅极连接，所述第二信号输出线与所述第二薄膜晶体管的第一极连接，所述第二薄膜晶体管的第二极与所述第一薄膜晶体管的第二极连接；所述第二信号输入线用于输入第二测试信号以使所述第二薄膜晶体管导通；所述第二信号输出线用于当所述第二薄膜晶体管导通时输出所述驱动电路的第二待测信号。

可选的，所述第一薄膜晶体管为N型薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管为P型薄膜晶体管，所述第一测试信号为高电平的第一脉冲信号，所述第二测试信号为低电平的第二脉冲信号。

可选的，所述第一薄膜晶体管为P型薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管为N型薄膜晶体管，所述第一测试信号为低电平的第一脉冲信号，所述第二测试信号为高电平的第二脉冲信号。

可选的，所述第一脉冲信号与第二脉冲信号具有相同的周期。

可选的，所述第一脉冲信号的终止时间点与所述第二脉冲信号的起始时间点相差的时间间隔小于所述第一待测信号或者第二待测信号的周期的四分之一，所述第一脉冲信号的起始时间点早于所述第二脉冲信号的起始时间点。

本发明还提供一种显示装置，包括驱动电路和上述任一所述的测试电路。

本发明还提供一种驱动电路的测试方法，所述测试方法采用一种测试电路，所述测试电路包括第一信号输入线、第一信号输出线以及多个第一薄膜晶体管，所述第一信号输入线与所述第一薄膜晶体管的栅极连接，所述第一信号输出线与所述第一薄膜晶体管的第一极连接，所述第一薄膜晶体管的第二极与驱动电路连接，所述测试方法包括：通过所述第一信号输入线输入第一测试信号以使所述第一薄膜晶体管导通；通过所述第一信号输出线输出所述驱动电路的第一待测信号。

可选的，所述测试电路还包括第二信号输入线、第二信号输出线以及多个第二薄膜晶体管，所述第二信号输入线与所述第二薄膜晶体管的栅极连接，所述第二信号输出线与所述第二薄膜晶体管的第一极连接，所述第二薄膜晶体管的第二极与所述第一薄膜晶体管的第二极连接；通过所述第二信号输入线输入第二测试信号以使所述第二薄膜晶体管导通；通过所述第二信号输出线输出所述驱动电路的第二待测信号。

本发明具有下述有益效果：