[发明专利]一种检测飞机下位锁的装置和方法在审

专利信息
申请号: 201410471068.8 申请日: 2014-09-16
公开(公告)号: CN104197885A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 关月;陈艳红;孙士祥;刘东梅 申请(专利权)人: 沈阳飞机工业(集团)有限公司
主分类号: G01B21/16 分类号: G01B21/16
代理公司: 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 代理人: 金春华
地址: 110034 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 飞机 下位 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明主要涉及一种应用于对飞机下位锁固定孔轴线与后端小平面距离的检测装置和 方法。

背景技术

飞机下位锁为飞机上的一个重要部件,如图1所示为一种飞机下位锁,圆柱形主体(4- 1)的下端依次设有圆柱体Ⅲ(4-5)和圆柱体Ⅰ(4-2),上端为设有固定孔(4-3)的圆柱体 Ⅱ(4-4)。在飞机下位锁设计中,为了保证飞机下位锁的安装质量,保证固定孔轴线与后端 小平面距离是关键。距离过大无法安装,过小产生缝隙,影响安全性。因此固定孔轴线与后 端小平面距离是否符合要求是检测产品质量的关键。固定孔轴线与后端小平面距离也就是固 定孔轴线与圆柱体Ⅲ(4-5)和圆柱体Ⅰ(4-2)连接面之间的距离。现有的方法是通过手扶 将飞机下位锁立住,然后手工操作测量固定孔轴线与后端小平面的距离,存在的问题是:众 所周知,通常圆柱体Ⅰ(4-2)的直径约为Φ40mm,构成的后端小平面端面较小、长度为 60mm且飞机下位锁的重量较重,因此飞机下位锁站立不稳,定位不准造成测量不准;而且 构成主体(4-1)、圆柱体Ⅰ(4-2)、圆柱体Ⅱ(4-4)和圆柱体Ⅲ(4-5)的直径不等,因此 固定孔轴线和后端小平面所处的两个平面难以引出,造成测量不准。

发明内容

为了解决以上问题,本发明提供一种结构简单,操作方便,测量准确的检测飞机下位锁 的装置。

本发明的另一目的是提供一种通过上述的装置准确测量飞机下位锁固定孔轴线与后端小 平面距离的方法。

本发明采用的技术方案是:一种检测飞机下位锁的装置,由测高装置、底座和平台构 成,测高装置上设有手柄、测头和控制装置,平台安装在底座上,平台上设有导入孔。

上述的一种检测飞机下位锁的装置,所述的平台为环状。

上述的一种检测飞机下位锁的装置,平台的高度大于待检测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ 的高度;平台上导入孔的孔径小于圆柱体Ⅲ的直径且大于圆柱体Ⅰ的直径,平台上、下平面 的平行度为0.005mm,平台的工作面的平面度为0.005mm,表面粗糙度Ra值为0.4μm。

上述的一种检测飞机下位锁的装置,平台的工作面硬度为60HRC,线膨胀系数小于± 0.3×10-6μm。

一种检测飞机下位锁的方法,利用上述的装置,方法如下:

1)将环状平台置于底座上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ插入平台上的导入孔 内,待测飞机下位锁圆柱体Ⅲ的下端面与平台的工作面紧密配合;

2)调整测高装置上测头的高度,使之与平台的工作面接触,通过控制装置将此高度设 置为“0”;

3)通过手柄带动测头垂直上移,测量设在待测飞机下位锁上端的固定孔的最高点和最 低点的高度值,计算得到固定孔轴线的高度值;

4)将固定孔轴线的高度值与设计值相比较,高度值在“设计值±0.5mm”范围内,即 为合格产品。

本发明的有益效果是:本发明由于设置了环状平台,测量时,将飞机下位锁下端的圆柱 体Ⅰ插入导入孔中,使得圆柱体Ⅲ的下端面坐在平台上,由圆柱体Ⅰ和圆柱体Ⅲ之间的平面 构成的飞机下位锁后端小平面恰好与环状平台上的工作面紧密配合。因此利用环状平台的工 作面将下位锁后端小平面的标准平面引出,作为测量基准面。通过测头采用接触测量原理, 即可准确测量。

本发明即可以将待测下位锁稳定装夹在平台上,同时又可以将被测平面引出,实现准确 测量。

附图说明

图1是一种飞机下位锁的结构示意图。

图2是本发明检测飞机下位锁的装置结构示意图。

具体实施方式

实施例1 一种检测飞机下位锁的装置

如图2所示,一种检测飞机下位锁的装置,由测高装置(1)、底座(2)和环状平台 (3)构成。

测高装置(1)上设有手柄(1-1)、测头(1-2)和控制装置(1-3)。

环状平台(3)安装在底座(2)上,环状平台(3)上设有导入孔(3-1)。

环状平台(3)的高度大于待检测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ(4-2)的高度;平台 (3)上导入孔(3-1)的孔径小于圆柱体Ⅲ(4-5)的直径且大于圆柱体Ⅰ(4-2)的直径, 环状平台上、下平面的平行度为0.005mm,平台的工作面的平面度为0.005mm,表面粗糙度 Ra值为0.4μm。

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