[发明专利]一种激光振动、位移传感器及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201410449192.4 申请日: 2014-09-04
公开(公告)号: CN104236464B 公开(公告)日: 2017-03-22
发明(设计)人: 叶岗;宋云峰;陈士钊;王晓;王雷 申请(专利权)人: 宁波舜宇智能科技有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 胡彬
地址: 315400 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 振动 位移 传感器 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种激光振动、位移传感器,其特征在于:包括光学系统(1)与电路系统(3);

在物体振动高频情况下,所述电路系统(3)的驱动电路(33)形成周期电流驱动光学系统(1)的激光器出射激光投射到物体(2)上,所述物体(2)的散射光反馈回激光器(11)形成自混合干涉,并由所述电路系统(3)进行物体(2)的高频振动解调;

在物体振动低频情况下,所述电路系统(3)的驱动电路(33)形成恒流电流驱动光学系统(1)的激光器出射激光投射到物体(2)上,所述物体(2)的斜向散射光由聚焦系统(14)接收,在线阵探测器(15)上形成光斑,形成激光三角法结构,并由所述电路系统(3)进行物体(2)的低频振动解调。

2.根据权利要求1所述的激光振动、位移传感器,其特征在于:所述光学系统(1)包括激光器(11)、光电探测器(12)、准直系统(13)、聚焦系统(14)和线阵探测器(15);所述准直系统(13)设置在激光器(11)和振动物体(2)之间,所述光电探测器(12)与激光器(11)相连接,用于测量激光器(11)的输出功率,所述聚焦系统(14)和线阵探测器(15)用于探测激光器(11)照射到振动物体(2)的斜向散射;

所述电路系统(3)包括运算控制单元(32),与运算控制单元(32)相连接的功能选择单元(31)、光电探测器(12)的信号放大电路(34)以及线阵探测器(15)的探测电路(35),所述运算控制单元(32)与激光器(11)的驱动电路(33)相连接。

3.根据权利要求2所述的激光振动、位移传感器,其特征在于:还包括可见光光源(16)、反射器(17)、合束器(18),所述可见光光源(16)的出射光线经反射镜(17)后,再通过合束器(18)合束后,由准直系统(13)出射形成指示光路。

4.根据权利要求3所述的激光振动、位移传感器,其特征在于:所述聚焦系统(14)和线阵探测器(15)之间设置有带通滤波器(19)。

5.一种激光振动、位移传感器的测量方法,其特征在于:

功能选择单元(31)选择高频测量功能,传感器启动自混合探测模式:运算控制单元(32)控制驱动电路(33)形成周期电流驱动激光器(11),激光器(11)出射激光经过准直系统(13)后投射到物体(2)上,物体(2)的散射光经准直系统(13)反馈回激光器(11),形成自混合干涉,光电探测器(12)探测激光器(11)输出的激光交流信号,经过信号放大电路(34)后传回运算控制电路(32)进行物体(2)的高频振动解调;

功能选择单元(31)选择低频测量功能,传感器启动激光三角法探测模式:运算控制单元(32)控制驱动电路(33)形成恒定电流驱动激光器(11),激光器(11)出射激光经过准直系统(13)后投射到物体(2)上,物体(2)的斜向散射光由聚焦系统(14)接收,在线阵探测器(15)上形成光斑,形成激光三角法结构;光斑在线阵探测器(15)上的像素点位置与物体(2)沿激光器出射激光方向的位移一一对应;探测电路(35)将线阵探测器(15)上接收到的光电信号传回运算控制单元(32),运算控制单元(32)通过光斑像素点位置变化,解调物体(2)的低频位移变化。

6.根据权利要求5所述的激光振动、位移传感器的测量方法,其特征在于:激光器(11)为红外波段测量激光器时,振动物体(2)的斜向散射进入聚焦系统(14)中,经过带通滤波器(19)后,可见光被反射,红外光透射在线阵探测器(15)上形成光斑,形成激光三角法结构,光斑在线阵探测器(15)上的像素点位置与物体(2)沿激光器出射激光方向的位移一一对应;探测电路(35)将线阵探测器(15)上接收到的光电信号传回运算控制单元(32),运算控制单元(32)通过光斑像素点位置变化,解调物体(2)的低频位移变化。

7.根据权利要求5所述的激光振动、位移传感器的测量方法,其特征在于:激光器(11)为红外波段测量激光器时,可见光光源(16)的出射光线经反射镜(17)后,再通过合束器(18)合束后,由准直系统(13)出射形成指示光路。

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