[发明专利]一种基于平晶扫描的环境光自适应激光测径装置在审

专利信息
申请号: 201410386310.1 申请日: 2014-08-05
公开(公告)号: CN104121861A 公开(公告)日: 2014-10-29
发明(设计)人: 陈亮;沈洋;周占春;苏玲爱;徐珍宝;张淑琴 申请(专利权)人: 中国计量学院
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 扫描 环境 自适应 激光 装置
【权利要求书】:

1.一种基于平晶扫描的环境光自适应激光测径装置包括激光器、平行平晶、斩光盘、扫描电机、接收物镜、光电信号接收和转换器件、边界检测和FPGA处理模块;所述的激光器是一种电激励式的红光半导体激光器;所述的平行平晶是一种表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面,它的作用主要是产生光波干涉条纹,测量直径范围为45-150mm,有效长度为200mm,其置于激光器和斩光盘中间;所述的斩光盘置于激光光束束腰附近,通过扫面电机带动匀速旋转对激光束进行调制,用来模拟激光束扫描待测工件所产生的扫描信号;所述的接收物镜可使扫描光束经过透镜后衍射光斑半径大小为0.2mm左右;所述的光电信号接收和转换器件选用与接收物镜光敏面积匹配较好的硅光电二极管,将其放置于接收物镜的焦点处,它的主要作用是将光信号转换成为电流信号;刀口标定RBF拟合法可以实现误差的均方根分析,提高精度。

2.根据权利要求1所述的一种基于平晶扫描的环境光自适应激光测径装置,其特征在于:所述的激光束原光强为:E(x,y,z)=E0[ω0/ω(z)]2exp[-2(x2+y2)/ω(z)]2]]>边界检测的算法为:E(x,z)=πK0E0ω02/2-K0-x-+E(x,y,z)dydx.]]>

3.根据权利要求1所述的一种基于平晶扫描的环境光自适应激光测径装置,其特征在于:所述的激光束对环境光有自适应功能。

4.根据权利要求1所述的一种基于平晶扫描的环境光自适应激光测径装置,其特征在于:所述的光电探测器的扫描信号经过边界检测模块后信号的灵敏度与标准电平法相比增大四倍。

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