[发明专利]一种液晶模组的阻抗测量装置及方法

权利要求书

1.一种液晶模组的阻抗测量装置，其特征在于，该装置包括：

待测模组端口；

与所述待测模组接口串联连接的标准电阻器端口；

电流源，与所述待测模组接口和所述电阻器串联连接；

电压计；

通道切换电路，用于将所述电压计连接到所述待测模组接口或所述标准电阻器端口上；以及

控制电路，与所述通道切换电路连接控制电压计的切换并根据所述待测模组的电压以及标准电阻器电压确定所述待测模组的电阻值。

2.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，该装置进一步包括连接在所述通道切换电路和所述控制电路之间的模数转换电路。

3.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，该装置进一步包括可编程的电流源选择电路，连接在所述控制电路和所述电流源连接之间。

4.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，所述通道切换电路是可编程模拟开关。

5.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，该装置进一步包括连接所所述通道切换电路和所述模数转换电路之间的信号放大电路。

6.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，所述待测模组端口是FOG模组端口、COG模组端口或并联连接的FOG和COG模组端口。

7.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，该装置进一步包括电流计，用于分别测量流过标准电阻器和待测模组的电流值，所述控制电路根据标准电阻器和待测模组的电流值对所确定的待测模组电阻值进行校正。

8.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，所述标准电阻器和所述待测模组端口上的电阻测量以四线测量法接线。

9.一种液晶模组的阻抗测量方法，利用如权利要求1所述液晶模组阻抗测量装置，该方法包括：

选择电流源量程并施加电流；

测量标准电阻器上的电压值和电流值；

测量待测模组上的电压值和电流值；

根据所述标准电阻器上的电压值和待测模组的电压值以及标准电阻器的电阻值，计算待测模组的电阻值。

10.如权利要求9所述的阻抗测量方法，进一步包括，

比较标准电阻器的电流值和待测模组的电流值；

如果不同，则根据该不同对所述计算得到的待测模组电阻值进行补偿。