[发明专利]一种测距和定位装置、方法及终端在审

专利信息
申请号: 201410340172.3 申请日: 2014-07-16
公开(公告)号: CN104111059A 公开(公告)日: 2014-10-22
发明(设计)人: 刘东声 申请(专利权)人: 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司
主分类号: G01C3/18 分类号: G01C3/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518057 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测距 定位 装置 方法 终端
【权利要求书】:

1.一种采用双摄像头进行测距的测距方法,包括步骤:

采用第一摄像头和第二摄像头分别捕捉待测物的图像;

根据待测物上待测点分别在第一摄像头和第二摄像头中的成像位置,得出所述待测物同一点的射入第一摄像头的入射光线方位角度和射入第二摄像头的入射光线的方位角度;以及

根据所述待测物上待测点的入射至第一摄像头的入射光线方位角度和入射至第二摄像头的入射光线的方位角度、以及第一摄像头的中心点和第二摄像头中心点之间的距离,计算所述待测物待测点与第一摄像头的中心点和第二摄像头中心点之间连线中点的距离。

2.如权利要求1所述的测距方法,其特征在于,所述第一摄像头包括第一成像透镜和第一光敏器件,所述第二摄像头包括第二成像透镜和第二光敏器件,所述第一摄像头的光轴与第二摄像头的光轴相互平行,所述第一成像透镜的中心点与所述第二成像透镜的中心点位于垂直于第一摄像头光轴的同一平面内。

3.如权利要求2所述的测距方法,其特征在于,定义经过第一成像透镜的中心点和第二成像透镜的中心点的直线为X轴,定义第一成像透镜的中心点和第二成像透镜的中心点连线的中点为坐标原点O,待测物上待测点入射至第一摄像头的第一成像透镜中心点的入射光为第一入射光线,入射至第二摄像头的第二成像透镜中心点的入射光为第二入射光线,所述待测物待测点的射入第一摄像头的入射光线方位角度为第一入射光与X轴所成的角度α,所述射入第二摄像头的入射光线的方位角度为第二入射光与X轴所成的角度β。

4.如权利要求3所述的测距方法,其特征在于,根据第一入射光与X轴所成的角度α、所述第二入射光与X轴所成的角度β以及第一摄像头的中心点和第二摄像头的中心点之间的距离,计算得出所述待测物的待测点与第一摄像头的中心点和第二摄像头中心点之间连线中点的距离。

5.一种采用双摄像头测距的测距装置,其包括:

摄像模块,所述摄像模块包括第一摄像头和第二摄像头,所述第一摄像头和第二摄像头均用于捕捉待测距的待测物的图像;

角度获取模块,用于根据待测物上待测点分别在第一摄像头和第二摄像头中所成的图像中的位置,得出所述待测物上待测点的入射至第一摄像头的入射光方位角度和入射至第二摄像头的入射光的方位角度;以及

距离计算模块,用于根据所述待测物待测点的入射至第一摄像头的入射光线方位角度和入射至第二摄像头的入射光线的方位角度、以及第一摄像头的中心点和第二摄像头中心点之间的距离,计算待测物待测点与第一摄像头的中心点和第二摄像头中心点之间连线中点的距离。

6.如权利要求5所述的测距装置,其特征在于,所述第一摄像头包括第一成像透镜和第一光敏器件,所述第二摄像头包括第二成像透镜和第二光敏器件,所述第一摄像头的光轴与第二摄像头的光轴相互平行,所述第一成像透镜的中心点与所述第二成像透镜的中心点位于垂直于第一摄像头光轴的同一平面内。

7.如权利要求6所述的测距装置,其特征在于,定义经过第一成像透镜的中心点和第二成像透镜的中心点的直线为X轴,定义第一成像透镜的中心点和第二成像透镜的中心点连线的中点为坐标原点O,待测物上一点入射至第一摄像头的第一成像透镜中心点的入射光为第一入射光线,入射至第二摄像头的第二成像透镜中心点的入射光为第二入射光线,所述角度获取模块用于获取第一入射光与X轴所成的角度α以及第二入射光与X轴所成的角度β。

8.如权利要求7所述的测距装置,其特征在于,所述距离计算模块用于根据第一入射光与X轴所成的角度α、所述第二入射光与X轴所成的角度β以及第一摄像头的中心点和第二摄像头的中心点之间的距离,计算得出所述待测物的待测点与第一摄像头的中心点和第二摄像头中心点之间连线中点的距离。

9.一种采用双摄像头进行测距的测距终端,其特征在于,所述测距终端包括如权利要求5至8任一项所述的测距装置。

10.如权利要求9所述的测距终端,其特征在于,所述测距终端为手机。

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