[发明专利]电子装置与其比较器

说明书

技术领域

本发明是有关于一种电子装置，且特别是有关于一种比较器。

背景技术

比较器常被利用在各种感测应用中，例如触控面板的感测电路等等。比较器用以对输入信号与参考电压进行比较，以产生比较结果。

目前常见的比较器多以互补式金属氧化物半导体(CMOS)等方式进行实现。然而，利用CMOS实现的比较器的架构通常会利用到P型晶体管与N型晶体管，因此需要用到较繁琐的制造程序，而使成本增加。此外，若CMOS的制造程序出现变异，可能会使得比较器的操作失效或产生错误的比较结果。

因此，如何能有效降低比较器的制造成本与操作可靠度，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。

发明内容

本发明内容的一态样系于提供一种电子装置。电子装置包含取样单元与放大单元。取样单元用以选择性地对第一输入信号与第二输入信号进行取样，并产生差值信号。放大单元用以接收差值信号并产生输出信号，其中放大单元经由第一预设电压、第二预设电压、第一系统供应电压与第二系统供应电压所驱动。第一预设电压用以设置放大单元的操作点，且第二预设电压大于第一系统供应电压。

综上所述，本发明内容所公开的电子装置能够在制程变异下藉由多种电压设置方式有效地提升操作可靠度。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，附图的说明如下：

图1A为根据本发明内容的一实施例绘示比较器的示意图；

图1B为根据本发明内容的一实施例绘示图1A中的比较器的操作时序图；

图2为根据本发明内容的一实施例绘示一种放大单元的示意图；

图3A为根据本发明内容的一实施例绘示一种放大单元的示意图；

图3B为根据本发明内容的一实施例绘示图3A的放大单元在预设电压调整前的电压增益与差值信号的关系曲线图；

图3C为根据本发明内容的一实施例绘示图3A的放大单元在预设电压调整后的电压增益Q与差值信号的关系曲线图；

图4为根据本发明内容的一实施例绘示一种放大单元的示意图；

图5为根据本发明内容的一实施例绘示一种光感测系统的应用示意图；以及

图6为根据本发明内容的一实施例绘示一种霍尔感测装置的应用示意图。

为让本发明内容能更明显易懂，所附符号的说明如下：

100：比较器140、200、300、400：放大单元

VIN1、VIN2：输入信号VC1、VC2：控制信号

VSIG：差值信号 α：偏移值

VINIT、VCC、VEE：预设电压501、502：光感测器

T1、T2、T3、T4、T5、T6、SW1、SW2、SW3：开关

VCC1、VINIT1、VEE1、VS1、VS3：电压120：取样单元

142：放大电路VOUT：输出信号

Q：电压增益A、B：节点

VDD、VSS：系统供应电压光感测装置：500

光罩：503霍尔感测装置：600

霍尔元件：601C：电容

IDS1、IDS2、IDS3、IDS4、IDS6、IF1、IF2：电流

具体实施方式

下文举实施例配合附图作详细说明，但所提供的实施例并非用以限制本发明所涵盖的范围，而结构操作的描述非用以限制其执行的顺序，任何由元件重新组合的结构，所产生具有均等功效的装置，皆为本发明所涵盖的范围。此外，附图仅以说明为目的，并未依照原尺寸作图。为使便于理解，下述说明中相同元件将以相同的符号标示来说明。

另外，关于本文中所使用的“耦接”或“连接”，均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，亦可指二或多个元件相互操作或动作。

请参照图1A，图1A为根据本发明内容的一实施例绘示比较器100的示意图。如图1A所示，比较器100包含取样单元120与放大单元140。取样单元120用以选择性地对输入信号VIN1与输入信号VIN2进行取样，并产生差值信号VSIG。放大单元140电性耦接取样单元120，并用以接收差值信号VSIG，以产生输出信号VOUT。