[发明专利]用于半导体设备内的晶圆缓存装置有效
| 申请号: | 201410286996.7 | 申请日: | 2014-06-24 |
| 公开(公告)号: | CN105321858B | 公开(公告)日: | 2017-11-28 |
| 发明(设计)人: | 张爽;王继周;门恩国 | 申请(专利权)人: | 沈阳芯源微电子设备有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;H01L21/677;H01L21/67 |
| 代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司21002 | 代理人: | 白振宇 |
| 地址: | 110168 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 半导体设备 缓存 装置 | ||
1.一种用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:包括第一晶圆盒(1)、第二晶圆盒(2)、第一气缸(7)、第二气缸(8)及底板(9),其中第一气缸(7)及第二气缸(8)分别安装在底板(9)上,所述第一晶圆盒(1)与第二晶圆盒(2)分别连接于第一气缸(7)及第二气缸(8)的输出端,并分别由所述第一气缸(7)及第二气缸(8)驱动、交替移动至机械手(14)取送晶圆的工位,即所述第一晶圆盒(1)或第二晶圆盒(2)移动至机械手(14)取送晶圆的工位,所述第二晶圆盒(2)或第一晶圆盒(1)位于空位。
2.按权利要求1所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:所述底板(9)上在对应机械手(14)取送晶圆的工位位置安装有传感器(19),所述第一晶圆盒(1)及第二晶圆盒(2)的下表面分别安装有与该传感器(19)相对应的传感器扫描挡板,所述第一晶圆盒(1)与第二晶圆盒(2)分别通过各自下方的所述传感器扫描挡板与所述传感器(19)交替配合定位于所述机械手(14)取送晶圆的工位。
3.按权利要求2所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:所述传感器(19)为对射式光电传感器,在传感器(19)上开有供所述传感器扫描挡板经过的凹槽,所述凹槽的上面为发光器,下面为收光器。
4.按权利要求1或2所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:所述第一气缸(7)与第二气缸(8)以机械手(14)取送晶圆方向对称布置,且第一气缸(7)驱动第一晶圆盒(1)的移动方向与第二气缸(8)驱动第二晶圆盒(2)的移动方向之间的夹角为锐角。
5.按权利要求4所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:沿所述第一气缸(7)驱动第一晶圆盒(1)的移动方向设有安装在底板(9)上的第一直线导轨(3),所述第一气缸(7)的输出端通过第一连接板(11)与第一晶圆盒(1)相连,且该第一连接板(11)上连接有沿所述第一直线导轨(3)滑动的第一滑块(4);沿所述第二气缸(8)驱动第二晶圆盒(2)的移动方向设有安装在底板(9)上的第二直线导轨(5),所述第二气缸(8)的输出端通过第二连接板(13)与第二晶圆盒(2)相连,且该第二连接板(13)上连接有沿所述第二直线导轨(5)滑动的第二滑块(6)。
6.按权利要求5所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:所述第一直线导轨(3)与第二直线导轨(5)以所述机械手(14)取送晶圆的方向对称布置,且第一、二直线导轨(3、5)之间的夹角为锐角。
7.按权利要求5所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:所述第一滑块(4)及第二滑块(6)运动行程的两端外侧分别设有安装在底板(9)上的限位块。
8.按权利要求1或2所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:所述第一、二气缸(7,8)的活塞杆处于缩回状态,即第一,二晶圆盒(1,2)均处于空位,所述第一、二晶圆盒(1、2)竖直方向在底板(9)上投影的中心到所述机械手(14)取送晶圆的工位在底板(9)上投影的中心的距离相等。
9.按权利要求1或2所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:所述第一、二晶圆盒(1、2)上分别设有供晶圆输入或输出的开口,在第一、二晶圆盒(1、2)内分别设有容置所述晶圆的插槽(22)。
10.按权利要求9所述用于半导体设备内的晶圆缓存装置,其特征在于:所述第一、二晶圆盒(1、2)上的开口沿高度方向开设,所述开口的宽度大于晶圆的直径。
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