[发明专利]X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台

说明书

【技术领域】

本发明属于检测设备技术领域，特别涉及一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台。

【背景技术】

目前，对于X射线粉末衍射仪，如荷兰帕纳科的X’Pert Pro、布鲁克及理学等知名品牌的衍射仪，厂家提供的多为用于测试粉末样品的玻璃样品浅槽，无法用于固体块状、片状样品的测试，特别是对于尺寸较大(待测试平面大于18×20mm)的样品或者对于长度和宽度都超过铝制样品架的较大尺寸固体块状样品无法直接上机测试时，往往通过裁减样品或通过改进样品测试架，这时候不可能对部分较大的固体块状样品进行无损测试，或者用线切割等方法将铝制样品测试架的外框裁切掉一部分，大大限制了衍射仪的应用范围。而当样品较大时，样品自重使得测试过程中往往导致测试面偏心而使测试结果失真，探求较大固体块状样品的简单、实用的测定方法是X射线衍射领域一个迫切需要解决的技术问题。

专利201220529658.8公开了一种X射线衍射仪样品测试架，其利用螺旋传动的原理，将载物台和螺杆连接在一起，工作时只需转动摇杆，螺杆便可带动载物台上下自由移动，从而可方便地调节试样的摆放高度。无论试样的尺寸过大还是过小，都可以很方便地放置在载物台上进行X射线扫描，而不再需要通过裁剪样品架等方法来对试样进行固定。该专利虽然利用水平测试仪调整被测试样的摆放位置，但是调节比较麻烦。专利200720174416.0公开了一种便于对薄片状固体样品进行测试的衍射仪样品台，其通过在传统样品台上添加支撑件、在操作过程中既要固定样品又要固定支撑架，操作较繁琐，也无法测量较厚的块状样品。专利201020144904.9公开了一种X衍射仪用固体块状样品架，其通过安装在基座中部的弹簧将样品顶压到样品测试面基准挡板框上实现，该样品台比较适合块状样品测试，但需要具备样品测试面基准挡板，样品台部件较多，制作要求比较高且要对样品进行裁剪破坏。因此，寻找一种制作简单、操作方便、对样品无破坏并适合X射线粉末衍射仪的固体块状样品测试的样品台，就显得尤为迫切。

【发明内容】

为了克服现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台。

本发明的目的通过以下技术方案实现：一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，包括底座支架和设置于底座支架上的样品槽；底座支架主要用来支撑样品槽，测试时以X射线衍射仪的样品台中轴和两个底座支架为支撑点固定和调节样品槽的位置。

所述底座支架由基座、导杆和内径千分尺组成；所述基座和导杆通过螺纹连接，所述内径千分尺通过螺丝固定于导杆中。

所述内径千分尺的测量范围优选为250-275mm，刻度值为0.01mm，精度等级为1级；内径千分尺的主要作用在于调节样品槽的平衡位置。

所述样品槽包括依次通过螺丝连接的定位蒙板、样品池和蒙板；

所述定位蒙板设置有中轴卡孔，所述中轴卡孔的大小与测角仪样品台的中轴匹配；测试样品时，定位蒙板可以卡在测角仪样品台的中轴上，便于固定样品台。

所述中轴卡孔的下方设置有弹簧卡孔；所述弹簧卡孔的大小与测角仪样品台的弹簧大小相一致；弹簧卡孔主要用来固定测角仪样品台的弹簧，这样可以不改变原测角仪样品台，操作简单。

机械加工时以A面为基准面，装卡定位，精加工B面，并保证A面与B面的平行度。

所述样品池上部的两侧边沿设置有水平泡。

优选的，所述样品池的底部设置有半圆形凹槽。

所述半圆形凹槽优选设置有两个。

所述半圆形凹槽优选设置于样品池底部外侧；凹槽可作为底座支架的支撑点，以测角仪样品台的中轴和两个底座支架作为样品台的三个支撑点，有利于减轻X射线衍射仪的样品台中轴的承受压力。

零加工完成以后，以定位蒙板的A面为基准面在平板上调平水平泡的位置。由于本发明的样品台的尺寸较大，当样品池填充满玻璃粉后，为防止测角仪样品台的中轴发生变形，在样品池的底部外侧设置两个半圆形凹槽作为底座支架的支撑点，以测角仪样品台的中轴和两个底座支架作为金属样品台的三个支撑点，有利于减轻X射线衍射仪的样品台中轴的承受压力。

所述样品池优选为上部开口的长方体槽。

所述底座支架优选为铝合金底座支架。

所述样品槽优选为铝合金样品槽。

所述样品槽的深度可以根据需要进行设计，优选为51mm。