[发明专利]X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台

权利要求书

1.一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，包括底座支架和设置于底座支架上的样品槽；

所述样品槽包括依次通过螺丝连接的定位蒙板、样品池和蒙板；

所述定位蒙板上设置有中轴卡孔，所述中轴卡孔的大小与测角仪样品台的中轴匹配；

所述中轴卡孔的下方设置有弹簧卡孔；所述弹簧卡孔的大小与测角仪样品台的弹簧大小相一致；

所述样品池的两侧边沿设置有水平泡。

2.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述样品池的底部设置有半圆形凹槽。

3.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述底座支架由基座、导杆和内径千分尺组成；所述基座和导杆通过螺纹连接，所述内径千分尺通过螺丝固定于导杆中。

4.根据权利要求3所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述内径千分尺的测量范围为250-275mm，刻度值为0.01mm，精度等级为1级。

5.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述半圆形凹槽设置有两个。

6.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述半圆形凹槽设置于样品池底部外侧。

7.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述底座支架为铝合金底座支架；所述样品槽为铝合金样品槽。

8.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述样品槽的深度为51mm。

9.权利要求1-8任一项所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台应用于粉末、片状、大尺寸、不规则、不能裁剪或无法研磨成粉末的样品的测试。

10.权利要求9所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台应用于X’Pert Pro粉末X射线衍射仪中。