[发明专利]使用激光位移传感器进行有效表面测量的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201410218951.6 申请日: 2014-05-22
公开(公告)号: CN104180769B 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: R·A·沃尔夫;M·C·默德;M·阿科皮扬;R·特伦布莱;W·福斯特;A·S·沃勒克 申请(专利权)人: 康耐视公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 谭英强
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 使用 激光 位移 传感器 进行 有效 表面 测量 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于在灰度图像中校正可疑像素的系统,包括:

处理器;以及

其上含有指令的存储器,当处理器执行所述指令时,使所述处理器:

部分基于所获得的对象图像,生成激光线位置数据和相应的激光线强度数据,其中所述激光线位置数据包括至少一个与所获得的图像内的相关联的像素对应的激光线位置数据;

识别至少一个与可疑像素位置相关联的激光线位置数据;

用激光线强度数据的成像像素的代替值取代与识别到的激光线位置数据相对应的激光线强度数据的初始值;以及

从激光线位置数据和相应取代的激光线强度数据中生成灰度图像。

2.如权利要求1所述的系统,其中与可疑像素位置相关联的激光线位置数据在可疑像素位置的预定距离内。

3.如权利要求1所述的系统,还包括通过以下至少一项来产生代替像素:计算相邻像素的平均值,以及将代替像素值设置为预定值。

4.如权利要求1所述的系统,其中使用可疑像素映射图来识别可疑像素位置。

5.一种用于产生对应高度图像的均匀比例的灰度图像的系统,包括:

处理器;以及

其上含有指令的存储器,当处理器执行所述指令时,使所述处理器:

产生激光线位置数据和激光线强度数据,其中所述激光线强度数据的每个像素包括对应于测量强度的标记;

将所述激光线位置数据的每个像素映射到表示物理空间的坐标系中,其中映射的像素中的至少两个具有置于其间的连接特征,所述连接特征包括对应于测量强度的标记;

计算出多个仓的具有代表性的位置值和具有代表性的标记值,其中多个仓中的每一个对应于所述映射的像素中的一个或多个以及所述连接特征的一部分;以及

利用具有代表性的标记值输出均匀比例的灰度图像,并利用具有代表性的位置值输出高度图像。

6.如权利要求5所述的系统,其中所述具有代表性的位置值包括平均位置值,而所述具有代表性的标记值包括平均标记值。

7.如权利要求5所述的系统,其中每个像素的映射包括将激光线位置数据的每个像素绘制入表示物理空间的坐标系中。

8.如权利要求5所述的系统,其中所述连接特征包括线段。

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