[发明专利]一种基于容性负载自动调整技术的晶振精度控制方法在审

专利信息
申请号: 201410212250.1 申请日: 2014-05-19
公开(公告)号: CN104065374A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 刘涛 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: H03L1/02 分类号: H03L1/02
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 姜明
地址: 250014 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 负载 自动 调整 技术 精度 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种基于容性负载自动调整技术的晶振精度控制方法,其特征在于包括以下步骤:

①以25摄氏度为参考基准,调整晶振的输出端的负载电容值,使晶振的温度漂移控制在+/-10ppm以内(即温漂量程范围为20ppm);

②获取-15至50摄氏度范围内晶振精度漂移的温度变化曲线,横坐标为温度,纵坐标为晶振精度漂移,在纵坐标上以20ppm为步长,划定各个漂移区间,漂移区间A、漂移区间B、漂移区间C等;

③在晶振精度漂移的温度变化曲线上,各个漂移区间的纵坐标方向中点,其对应的横坐标即为温度稳定极点,即该温度值下,如果控制使能对应大小晶振的容性负载,可使该温度精度漂移控制在+/-10ppm以内;

④根据各个漂移区间对应的温度稳定极点,可测试出对应的晶振的容性负载的值;根据温度稳定极点的不同,通过动态切换电容的组合,实现容值的自动匹配。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于以25摄氏度为参考基准,调整晶振输出端的负载电容值,使晶振的温度漂移控制在+/-10ppm以内,需要将晶振所在的服务器主板置于恒定25摄氏度温度的测试环境中,采用频率计实时读取晶振频率,连续三次均准确在+/-10ppm以内,则认为当前的容值准确,容值的调整方法为若晶振频率偏低,则减小容值,若晶振频率偏高,则增大容值。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于获取-15至50摄氏度范围内晶振精度漂移的温度变化曲线,横坐标为温度,纵坐标为晶振精度漂移,从-15摄氏度至50摄氏度,温度每变化1摄氏度,则记录晶振当前温度下对应的频率值,并根据与标准频率的偏差比对,换算为ppm值,将每个温度点下对应的ppm值点采用曲线拟合进行连续化实现;在纵坐标上以20ppm为步长,划定各个漂移区间。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于在晶振精度漂移的温度变化曲线上,各个漂移区间的纵坐标方向中点,其对应的横坐标即为温度稳定极点,即该温度值下,如果控制使能对应大小晶振的容性负载,可使该温度精度漂移控制在+/-10ppm以内,温度稳定极点离散分布在各个温度区间上,每个温度稳定极点均对应一个容性负载,实现容性负载跟随温度的自动更新即实现整个温度区间的+/-10ppm温漂控制。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于根据各个漂移区间对应的温度稳定极点,可测试出对应的晶振的容性负载的值;根据温度稳定极点的不同,通过动态切换电容的组合,实现容值的自动匹配,容值的动态切换需要实时检测环境温度的变化,根据电容的串并联组合,采用模拟开关,在不同的漂移区间,按照ppm精度要求,搭配出对应需求的容性负载。

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