[发明专利]环模磨损形貌测量装置

说明书

技术领域

本发明属于测量工具技术领域，特别是一种环模磨损形貌测量装置。

背景技术

环模制粒机中的环模是压制颗粒饲料的核心工作部件，其工作性能直接影响制粒的质量、颗粒成型、生产率。环模的失效形式主要有磨损和疲劳断裂，又以磨损为主要形式，环模磨损严重影响了环模的使用寿命和制粒的质量。因此，对环模的磨损形貌进行测量对于预估制粒质量和改进环模的不均匀磨损具有重要的意义。

环模在工作过程中，由于和物料之间存在摩擦，会使得环模内壁磨损，内表面变得凹凸不平，阻碍饲料流动；同时，出料各小孔内壁磨损，孔径增大，所生产的颗粒饲料直径变大。目前并没有专门对环模磨损形貌进行测量的工具。

发明内容

本发明的目的在于提供一种结构简单、便于携带、操作方便、实用性强的环模磨损形貌测量装置。

实现本发明目的的技术解决方案为：

一种环模磨损形貌测量装置，包括磁铁片、底座、导轨、垂直基座、测微仪和紧定螺钉；垂直基座与导轨形成滑动副，且与导轨之间设置有紧定螺钉；两个底座分别设置在垂直基座的两侧，其中一个底座与导轨固定连接；另一个底座与导轨形成滑动副，且与导轨之间设置有紧定螺钉；两个底座位于导轨下方的内侧固连有磁铁片；导轨上有刻度；测微仪与垂直基座固连，且测微仪的测量端位于底座上固连磁铁片的一侧。

本发明与现有技术相比，其显著优点：

(1)本发明结构简单，对现有的装置进行改造即可使用，且测量方法简单，操作方便。

(2)本发明的测头通过测头固定磁铁与测杆连接，测头可拆卸、更换，既能测环模表面的磨损情况，也可以测环模模孔的磨损情况，适用范围广。

下面结合附图对本发明作进一步详细描述。

附图说明

图1是本发明环模磨损形貌测量装置的结构示意图。

具体实施方式

结合图1：

本发明一种环模磨损形貌测量装置，包括磁铁片1、底座2、导轨3、垂直基座4、测微仪5和紧定螺钉7；垂直基座4与导轨3形成滑动副，且与导轨之间设置有紧定螺钉7；两个底座2分别设置在垂直基座4的两侧，其中一个底座2与导轨3固定连接；另一个底座2与导轨3形成滑动副，且与导轨3之间设置有紧定螺钉7；两个底座2位于导轨下方的内侧固连有磁铁片1；导轨3上有刻度；测微仪5与垂直基座4固连，且测微仪5的测量端位于底座2上固连磁铁片1的一侧。

测微仪5采用了去除了测砧的螺旋测微仪，去除了测砧的螺旋测微仪的基座与套筒6的通孔过盈配合，套筒6与垂直基座4的通孔过盈配合，去除了测砧的螺旋测微仪的测杆底端开孔，开孔的底部固连有测头固定磁铁8，测头9通过测头固定磁铁8固定在测杆底端的开孔内。

导轨3采用双轨，垂直基座4和底座2均位于双轨之间。

工作原理：

其中一个底座2与导轨3固连，另一个底座2可在导轨3上滑动，整个装置位于环模的内部，根据被测环模的宽度调整两个底座2之间的距离，两块磁铁片1分别靠磁力吸在环模的两端面的外侧，然后通过紧定螺钉7将可滑动的底座2与导轨3固定，选取一个位置作为测量基准，记录导轨3和测微仪5的读数，即可以此为基准测量其他位置的磨损情况。

实施例：

结合图1：

一种环模磨损形貌测量装置，包括磁铁片1、底座2、导轨3、垂直基座4、测微仪5和紧定螺钉7；导轨3采用双轨结构，且导轨2上刻有刻度，垂直基座4位于两股轨道之间，且与导轨3形成滑动副，垂直基座4与导轨之间设置有四颗紧定螺钉7；两个底座2分别设置在垂直基座4的两侧，两个底座2均设置在导轨3的两股轨道之间，其中一个底座2与导轨3固定连接；另一个底座2与导轨3形成滑动副，且与导轨3之间设置有四颗紧定螺钉7；两个底座2位于导轨下方的内侧固连有磁铁片1；测微仪5为去除了测砧的螺旋测微仪，去除了测砧的螺旋测微仪的基座与套筒6的通孔过盈配合，套筒6与垂直基座4的通孔过盈配合，去除了测砧的螺旋测微仪的测杆底端开孔，开孔的底部固连有测头固定磁铁8，测头9通过测头固定磁铁8固定在测杆底端的开孔内；测头9位于底座2上固连磁铁片1的一侧。

工作方式：