[发明专利]光电探测成像系统及其成像方法在审
| 申请号： | 201410182047.4 | 申请日： | 2014-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN103969693A | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 陈一仁;宋航;黎大兵;蒋红;孙晓娟;李志明;缪国庆;张志伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 王丹阳 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光电 探测 成像 系统 及其 方法 | ||
1.光电探测成像系统，包括光学系统和信号处理系统，其特征在于，还包括单元探测器、DMD和DMD控制系统；
所述光学系统将被探测对象成像到DMD上；
所述DMD控制系统控制DMD的数字微镜逐个翻转或分区域逐个区域翻转；
所述DMD将光信号逐个反射给单元探测器；
所述单元探测器将光信号逐个转换成电信号，单元探测器为AlGaN基单元日盲探测器、硅基单元光电探测器或者GaAs基单元光电探测器；
所述信号处理系统逐个采集电信号，并对电信号逐个进行AD转换后，逐个存储，并整合及还原成像。
2.根据权利要求1所述的光电探测成像系统，其特征在于，所述DMD的窗口材料为石英玻璃。
3.光电探测成像方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一、光学系统将被探测对象成像到DMD上；
步骤二、DMD控制系统控制DMD的数字微镜逐个翻转或分区域逐个区域翻转，DMD将光信号逐个反射到单元探测器上；
所述单元探测器为AlGaN基单元日盲探测器、硅基单元光电探测器或者GaAs基单元光电探测器；
步骤三、单元探测器将接收的光信号逐个转换成电信号；
步骤四、信号处理系统逐个采集电信号，并对电信号逐个进行AD转换，逐个存储，通过整合及还原，完成被探测对象的成像。
4.根据权利要求3所述的光电探测成像方法，其特征在于，所述DMD的窗口材料为石英玻璃。
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