[发明专利]鳍式场效晶体管中栅极的分离方法有效

专利信息
申请号: 201410174584.4 申请日: 2014-04-28
公开(公告)号: CN103928349B 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 鲍宇 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/28;H01L29/78
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 代理人: 吴世华,林彦之
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 鳍式场效 晶体管 栅极 分离 方法
【权利要求书】:

1.一种鳍式场效晶体管中栅极的分离方法,其特征在于,包括:

在所述鳍式场效晶体管中鳍的顶端设置一保护层,并形成一栅极层以及位于栅极层上表面的牺牲层;

对所述栅极层上表面设置的牺牲层进行化学机械研磨,并停止于所述鳍的保护层;

有选择地在栅极层中一栅极对应的栅极层和牺牲层上表面形成一光罩;

通过刻蚀工艺刻蚀掉所述栅极层中一栅极之上的光罩,并停止于对应位置处的保护层;以及刻蚀掉所述栅极层中另一栅极上的保护层,以裸露所述栅极层中另一栅极;

去除所述栅极层之上的剩余的牺牲层。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述保护层的材料为SiN或SiON。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述牺牲层的材料为氧化物材料。

4.一种鳍式场效晶体管半成品结构,其特征在于,包括:

栅极层;

保护层,位于所述鳍式场效晶体管的鳍顶端;

牺牲层,位于所述栅极层上表面。

5.根据权利要求4所述的半成品结构,其特征在于,还包括一光罩,位于经化学机械研磨停止所述保护层。

6.根据权利要求4所述的半成品结构,其特征在于,所述保护层的材料为SiN或SiON。

7.根据权利要求4所述的半成品结构,其特征在于,所述牺牲层的材料为氧化物材料。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410174584.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top