[发明专利]削减板级物理测试点的测试方法有效
| 申请号： | 201410152611.8 | 申请日： | 2010-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN103884949A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 赵怡 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区谱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 杨林洁 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 削减 物理 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种削减板级物理测试点的测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
S1，提供待测电路板，所述待测电路板上安装有若干电子元器件及对应的若干物理测试点；若干电子元器件包括分别通过两个电容而相互连接的两个边界扫描器件；
S2，对待测电路板上的物理测试点进行筛选，筛选出可以被消减的上述电子元器件中以差分线相连的电容与边界扫描器件之间的物理测试点；
S3，运用在线测试对未被消减的物理测试点进行测试，另外，辅助利用边界扫描测试对可以被消减的物理测试点进行测试。
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