[发明专利]一种用于检测平板光学元件面形误差的装置及方法无效
| 申请号: | 201410103178.9 | 申请日: | 2014-03-19 |
| 公开(公告)号: | CN103837096A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
| 发明(设计)人: | 李云;贾辛;徐富超;邢廷文 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;李新华 |
| 地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 检测 平板 光学 元件 误差 装置 方法 | ||
1.一种用于检测平板光学元件面形误差的装置,其特征在于包括:光学元件支架(102),匹配液体(103)和匹配液体盛放槽(104),所述光学元件支架(102)用于夹持光学元件(101),并可将光学元件支架(102)放置于匹配液体盛放槽(104)上,匹配液体(103)是与所要检测的平板光学元件(101)的材料折射率接近或完全一致的透明溶液,匹配液体(103)不得对被检测光学元件(101)造成化学损伤。
2.根据权利要求1所述的一种用于检测平板光学元件面形误差的装置,其特征在于:匹配液体(103)为苯、乙醚、甘油或松节油,匹配液体(103)也可以是溶液,譬如氯化钠溶液,20摄氏度时,氯化钠溶液的折射率可以按照氯化钠溶液的浓度从1.33调配至1.6,覆盖了大部分光学材料的折射率范围。
3.根据权利要求2所述的一种用于检测平板光学元件面形误差的装置,其特征在于:匹配液体盛放槽(104)内部具有消光涂层或消光结构,光线射入后不会产生强烈镜面反射,譬如可采用磨砂外加涂黑处理以消除镜面反射,也可采用折反光学系统结构将光线折射至非相干区域。
4.根据权利要求2所述的一种用于检测平板光学元件面形误差的装置,其特征在于:该匹配溶液盛放槽(104)存在一个用于添加匹配溶液的添液嘴(108),该添液嘴(108)的上沿高度与匹配液体盛放槽(104)的上沿持平或略低于匹配液体盛放槽(104)的上沿高度。
5.一种用于检测平板光学元件面形误差的方法,该方法利用权利要求1至4任一项所述的用于检测平板光学元件面形误差的装置实现,其特征在于包括如下的步骤:
步骤(1):查询或测试该光学元件(101)所采用的光学材料的折射率,选择并调配匹配液体(103);
步骤(2):将匹配液体(103)注入匹配液盛放槽(104)内;擦拭干净被检测平板光学元件(101)的被检测光学表面,将夹持好被检测件的光学元件(101)的光学元件支架(102)放置于匹配液体盛放槽(104)上,被检测光学元件(101)前光学表面朝上,为待检测光学表面,后光学表面没入匹配液(103)中,前光学表面不得没入匹配液体(103)中,且不得被匹配液体(103)污染;如液面高度不合适可通过添液嘴(108)适当添加或取出匹配液体(103);
步骤(3):将步骤(2)中安放好光学元件(101)和匹配液体(103)的装置放置于立式干涉仪工件支架(106)上,静止一段时间,直至液面稳定后即可采用立式干涉仪进行光学元件面形误差检测;
步骤(4):按照普通立式干涉仪的常规操作步骤,检测并读取光学元件的面形数据;
步骤(5):取下匹配液体盛放槽,并依次取下光学元件及光学元件支架,倒出匹配液体,用自来水冲洗光学元件及匹配液体盛放槽并晾干。
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