[发明专利]一种采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法有效
| 申请号: | 201410100385.9 | 申请日: | 2014-03-19 |
| 公开(公告)号: | CN103943717B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
| 发明(设计)人: | 宋锋兵;闫用用;张惠;何大娟;李积伟 | 申请(专利权)人: | 晶澳(扬州)太阳能科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216;C23C16/455;C23C16/42 |
| 代理公司: | 广州知友专利商标代理有限公司44104 | 代理人: | 李海波 |
| 地址: | 225131 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 采用 pecvd 制备 太阳能电池 减反射膜 方法 | ||
1.一种采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,包括选取晶体硅片,对晶体硅片进行制绒和扩散工序,其特征是:还包括在制绒和扩散后的晶体硅片的受光面上采用管式PECVD依次沉积SiOx、SiNx和SiOx叠层膜或SiOx、SiNx和SiOxNy叠层膜,以达到提高经后续常规工艺制得的太阳能电池片的光电转换效率以及抗电位诱发衰减PID特性。
2.根据权利要求1所述的采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,其特征是:所述SiOx 、SiNx和SiOx叠层膜 或SiOx、SiNx和SiOxNy叠层膜的总膜厚为70~100nm,折射率为1.85~2.15。
3.根据权利要求2所述的采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,其特征是:所述SiOx、SiNx和SiOx叠层膜或SiOx、SiNx和SiOxNy叠层膜中底层SiOx薄膜的膜厚为5~15nm,折射率为1.5~1.8。
4.根据权利要求2或3所述的采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,其特征是:所述SiOx、SiNx和SiOx叠层膜或SiOx、SiNx和SiOxNy叠层膜中中间层薄膜SiNx薄膜的膜厚为45~65nm,折射率为2.0~2.2。
5.根据权利要2所述的采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,其特征是:所述SiOx、SiNx和SiOx叠层膜或SiOx、SiNx和SiOxNy叠层膜中顶层SiOx或SiOxNy薄膜的膜厚为10~40nm,折射率为1.5~1.8。
6.根据权利要4所述的采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,其特征是:所述SiOx、SiNx和SiOx叠层膜或SiOx、SiNx和SiOxNy叠层膜中顶层SiOx或SiOxNy薄膜的膜厚为10~40nm,折射率为1.5~1.8。
7.根据权利要求1所述的采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,其特征是:采用管式PECVD镀底层SiOx薄膜时,采用SiH4和N2O的混合气体作为气源,二者的体积比为1:10~35,沉积温度350~500℃。
8.根据权利要求1或7所述的采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,其特征是:采用管式PECVD镀中间层SiNx薄膜时,采用SiH4和NH3的混合气体作为气源,二者的体积比为1:3~10,沉积温度350~500℃。
9.根据权利要求1所述的采用管式PECVD制备太阳能电池叠层减反射膜的方法,其特征是:采用管式PECVD镀顶层SiOx薄膜时,采用SiH4和N2O的混合气体作为气源,二者的体积比为1:15~35,沉积温度为350~500℃;或采用管式PECVD镀顶层SiOxNy薄膜时,采用SiH4、N2O和NH3的 混合气体作为气源,二者的体积比为1:15~35:15~20,沉积温度为350~500℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





