[发明专利]高选择性梳状CdS纳米材料的合成方法有效

专利信息
申请号: 201410026449.5 申请日: 2014-01-21
公开(公告)号: CN103754927A 公开(公告)日: 2014-04-30
发明(设计)人: 祁小四;刘洪超;邓朝勇 申请(专利权)人: 贵州大学
主分类号: C01G11/02 分类号: C01G11/02;B82Y40/00;B82Y30/00
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 吴无惧
地址: 550025 贵州*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 选择性 cds 纳米 材料 合成 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及到一种Ⅱ-Ⅵ族半导体光电材料——梳状CdS纳米材料——的高选择性合成方案,通过了采用物理气相沉积法利用Au纳米颗粒催化作用,合成出了高选择性的梳状CdS纳米材料,为该种半导体光电材料的性能研究和开发奠定了坚实的实验基础。

背景技术

Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体由于具有较宽的禁带范围、直接跃迁的能带结构以及良好的发光性能等特点在激光器、发光二极管、太阳能电池等方面存在着广泛的应用。而纳米尺度的Ⅱ- Ⅵ族半导体材料因其独特的物性和满足微型化器件的需求,在纳米光电子器件领域表现出巨大的应用潜力,因此,Ⅱ-Ⅵ族半导体化合物纳米材料的合成、光电性能等研究成为近些年来纳米材料学领域的焦点。CdS作为一种典型的Ⅱ- Ⅵ族化合物半导体,其室温下禁带宽度为2.42 eV,在可见光范围内具有非常好的光电特性。随着尺寸和维度的降低,CdS纳米材料表现出不同于其块体和薄膜材料的奇特光学和电学性质,比如,量子尺寸效应使得CdS的能级改变、能隙变宽,吸收和发射光谱向短波方向移动;表面效应会引起CdS纳米微粒的表面原子输运和构型发生变化,同时也引起其表面电子自旋构象和电子能谱发生变化。因而,一维CdS纳米结构材料在电子、光电子方面具有非常重要的潜在应用前景,其结构和物性的关联研究备受国内外科研工作者的关注。到目前为止,有关某些特定结构的CdS纳米材料(纳米带、纳米线等)的合成已有相关报道,但关于高选择性梳状CdS纳米材料的报道却非常稀少。

专利以CdS粉末为起始原料,以氩气为载流气体,以沉积在单晶Si片的Au膜为催化剂材料,利用物理气相沉积法单步合成出高选择性的梳状CdS纳米材料。

发明内容

本发明目的是通过系统的实验分析和总结,设计出一套梳状CdS纳米材料的高选择性合成方案,为该种先进功能材料的开发研究和实际应用奠定了物质和实验基础。

本发明的技术方案:高选择性梳状CdS纳米材料的合成方法,其特征在于:包含以下步骤:(1)Si片上沉积Au膜;(2) CdS粉末放置在陶瓷舟里,并整体推入石英管内,后将镀有Au膜的Si片放置在陶瓷舟左侧;(3) 密封石英管,抽气,从陶瓷舟的右侧引入氩气,管内压强保持在0.1 MPa,将反应温度升至800 ℃,并在氩气的保护下恒温2 h,待反应温度降到室温后,即得。

Si片上沉积Au膜的厚度为48 -55 nm 。

将镀有Au膜的Si片放置在距小瓷舟左侧17 cm位置处。

本发明的有益效果是:本发明利用Au纳米颗粒作为催化剂,通过单步、简单、友好的物理气相沉积方法实现了高选择性梳状CdS纳米材料的合成,为该种材料的性能研究、开发和实际应用奠定了坚实的实验基础。

本发明优点是利用Au纳米颗粒作为催化剂,采用单步物理气相沉积法实现了梳状CdS纳米材料的高选择性合成。因而,与之前所报道的工艺条件和方法相比,该合成方案利用简单、环境友好的实验方法成功地实现了高选择性梳状CdS纳米材料的合成且实验具有很好的可重复性。

附图说明

图1为所合成样品的FE-SEM照片;

图2为所合成样品的XRD图。

具体实施方式

以下是本发明的实例(实例中所用试剂均为化学纯),该实验过程的主要步骤:

首先,使用小型离子溅射仪在尺寸为0.9 cm*0.9 cm的(100)晶向Si基片上镀一层厚度约为50 nm Au膜;将盛有1.4 g CdS粉末的陶瓷舟放入石英管内并推至管式炉热电偶位置处,将镀有Au膜的Si基片推入石英管至距离陶瓷舟左侧17 cm位置处,密封石英管,利用机械泵抽气1 h后,从右侧以30 sccm的流速通入氩气,调节两边珐琅上进气口和出气口的气体流速,利用机械泵将石英管内的气压维持在0.1 MPa;在氩气的保护下,将反应温度升高至800 ℃并在此温度下恒温反应2小时,待反应完成后将所得样品在原位氩气氛围下退火100分钟,待整个装置冷却至室温后,可在基片上得到一层黄色样品。本发明所制备的样品需要利用以下仪器进行物相和结构表征、分析。样品物相分析采用日本Rigaku公司制造的D/Max-RA型旋转阳极X射线衍射仪(XRD)进行分析(CuKα);产品形貌采用FEI公司生产的Sirion场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)以及JEOL-2010型高分辨透射电子显微镜(HRTEM)表征。

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