[发明专利]一种提高硬盘可靠性的方法

权利要求书

1.一种提高硬盘可靠性的方法，其特征在于，包括以下步骤：

（1）获取不同采样时刻硬盘阵列的参数，包括温度（t0,t1,…,tn）、性能（p0,p1,…,pn）、运行时间（o0,o1,…,on）和功耗（c0,c1,…,cn），其中n表示采样点的数量；

（2）计算不同采样时刻硬盘阵列的参数所对应的隶属值，包括温度（T_t0,T_t1,…,T_tn）、性能（P_p0,P_p1,…,P_pn）、运行时间（O_o0,O_o1,…,O_on）以及功耗（C_c0,C_c1,…,C_cn）；

（3）获取步骤（2）获得的硬盘温度、性能、运行时间对应的隶属值的平均值A=（T_t0+T_t1+…+T_tn）/n、B=（P_t0+P_t1+…+P_tn）/n、C=（O_t0+O_t1+…+O_tn）/n以及功耗对应隶属值的最小值D；

（4）获取该硬盘阵列的聚合值F=aA+bB+cC+dD，其中a=0.1，b=0.2，c=0.3，d=0.4；

（5）改变磁盘阵列的大小，重复上述步骤（1）至（4），以获取不同大小磁盘阵列对应的聚合值，并找到使聚合值最大对应的磁盘阵列作为最可靠的磁盘阵列。

2.根据权利要求1所述的，其特征在于，步骤（2）具体采用以下公式：

Ttn=1,tn≤3050-tn50-30,30<tn<500,tn≥50]]>

Ppn=0,pnp0≤0.8pnp0-0.81.2-0.8,0.8<pnp0<1.21,pnp0≥1.2]]>

Oon=0,on≤30on-3060-30,30<on<601,on≥60]]>

Ccn=exp(-(SnPn)22σ2)]]>

其中，S_n为n时刻的磁盘状态向量，P_n为n时刻每个磁盘耗电量组成的耗电向量，σ为常数，其值为在采样区间内最大功耗的一半。