[发明专利]溅射沉积源、溅射沉积的设备及其组装方法有效
| 申请号: | 201380080736.8 | 申请日: | 2013-11-05 |
| 公开(公告)号: | CN105706212B | 公开(公告)日: | 2018-11-20 |
| 发明(设计)人: | S·凯勒;U·舒斯勒;D·哈斯;S·邦格特 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
| 主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;H01J37/34 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 黄嵩泉 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 射频 rf 溅射 沉积 设备 及其 组装 方法 | ||
描述了一种用于在真空腔室中溅射沉积的溅射沉积源。该源包括:真空腔室的壁部分;目标,在溅射沉积期间提供待沉积的材料;RF电源,用于向目标提供RF功率;功率连接器,用于将目标与RF电源连接;以及导体棒,穿过壁部分从真空腔室内部延伸至真空腔室外部,其中导体棒被连接至真空腔室内部的一个或多个部件,并且其中导体棒被连接至真空腔室外部的RF电源以生成穿过导体棒的定义的RF返回路径。
技术领域
本发明的实施例涉及一种溅射阴极及其操作及制造方法。实施例涉及一种用于在真空腔室中沉积的设备。本发明的实施例特别涉及用于在真空腔室中溅射沉积的溅射沉积源,用于在真空腔室中溅射沉积的设备,以及组装用于在真空腔室中溅射沉积的设备的方法。
背景技术
PVD工艺在某些技术领域(例如显示器制造)中获得越来越多的关注。良好沉积速率可利用对于某些PVD工艺的足够的层特性而获得。例如,溅射为显示器制造或其他应用的一项重要沉积工艺。溅射(例如,磁控溅射)为用于涂布基板(例如,玻璃基板或塑料基板)的技术。溅射通过经由使用等离子体溅射目标来产生涂布材料流。在此工艺期间,材料通过与来自等离子体的高能颗粒碰撞而从目标的表面释放。溅射可受等离子体参数(诸如压力、功率、气体和磁场)控制。在真空中,经溅射的材料从目标朝向一个或多个基板或工件行进,并粘附至该一个或多个基板或工件的表面。包括金属、半导体及介电材料的各种材料可被溅射至期望的规格。因此,在包括半导体处理、光学涂层、食品包装、磁性记录以及防护服涂层的各种应用中,已发现磁控溅射被接受。
磁控溅射装置包括:电源,用于将能量沉积到气体中以击打和维持等离子体;磁性元件,用于控制离子的运动;以及目标,用于通过经由等离子体的溅射来产生涂布材料。利用具有不同的电配置、磁性配置以及机械配置的各种装置完成溅射。这些配置包括DC或AC电磁场或射频能量的源以产生等离子体。更明确而言,可使用RF溅射法溅射非导电材料。
RF-PVD对于多个应用(例如非导电材料的溅射)而言是受期望的。然而,RF-溅射工艺常常产生电弧及寄生等离子体。在用于RF溅射的设备和系统的组装与调试期间,已经尝试利用大量个别努力来解决这些问题。
发明内容
鉴于上述,提供一种用于在真空腔室中溅射沉积的溅射沉积源,一种用于在真空腔室中溅射沉积的设备,以及一种组装用于在真空腔室中溅射沉积的设备的方法。本发明的进一步的方面、优点以及特征从从属权利要求、说明书与附图中显而易见。
根据一个实施例,提供一种用于在真空腔室中溅射沉积的溅射沉积源。该源包括:真空腔室的壁部分;目标,在溅射沉积期间提供待沉积的材料;RF电源,用于向目标提供RF功率;功率连接器,用于将目标与RF电源连接;以及导体棒,穿过壁部分从真空腔室内部延伸至真空腔室外部,其中导体棒被连接至真空腔室内部的一个或多个部件,并且其中导体棒被连接至真空腔室外部的RF电源,以生成穿过导体棒的定义的RF返回路径。
根据另一个实施例,提供一种用于在真空腔室中溅射沉积的设备。该设备包括用于在真空腔室中溅射沉积的溅射沉积源;以及真空腔室。该源包括:真空腔室的壁部分;目标,在溅射沉积期间提供待沉积的材料;RF电源,用于向目标提供RF功率;功率连接器,用于将目标与RF电源连接;以及导体棒,穿过壁部分从真空腔室内部延伸至真空腔室外部,其中导体棒被连接至真空腔室内部的一个或多个部件,并且其中导体棒被连接至真空腔室外部的RF 电源,以生成穿过导体棒的定义的RF返回路径。
根据进一步的实施例,提供一种组装用于在真空腔室中溅射沉积的设备的方法。该方法包括:穿过设备的壁部分插入导体棒;将真空腔室内部的至少一个部件连接至导体棒;以及将导体棒连接至RF电源的返回路径。
附图说明
为了可详细理解本发明的以上详述特征的方式,可通过参照实施例对简要概述于上的本发明进行更具体的描述。附图涉及本发明的实施例并且描述如下:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380080736.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





