[发明专利]分光测定装置、分光测定方法及试样容器

权利要求书

1.一种分光测定装置，其特征在于，

是对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置，

包含：

光源，其产生所述激发光；

积分器，其具有入射所述激发光的入射开口部、及射出所述被测定光的射出开口部；

收纳部，其配置于所述积分器内，且收纳所述试样；

入射光学系统，其使所述激发光入射至所述试样；

光检测器，其检测自所述射出开口部射出的所述被测定光；及

解析单元，其基于由所述光检测器检测出的检测值，计算所述试样的量子产率，

所述激发光以使所述激发光的照射面积大于所述试样的被照射面积且包含所述试样的方式照射于该试样。

2.如权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，

所述入射光学系统以所述激发光包含所述试样的方式调整所述激发光。

3.如权利要求1或2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述收纳部以所述激发光包含所述试样的方式收纳所述试样。

4.如权利要求1至3中任一项所述的分光测定装置，其特征在于，

所述积分器具有安装有用于将所述收纳部配置于所述积分器内的试样支撑体的试样导入开口部，

所述试样支撑体以所述收纳部的开口面相对于所述激发光的照射光轴的正交面倾斜的方式安装于所述试样导入开口部。

5.如权利要求4所述的分光测定装置，其特征在于，

所述收纳部的所述开口面的倾斜方向与所述收纳部的开口面的长轴方向彼此为相同方向。

6.如权利要求4或5所述的分光测定装置，其特征在于，

所述入射光学系统包含光学构件，该光学构件具有具备长轴的形状的开口，

所述光学构件的开口的长轴方向与所述收纳部的开口面的倾斜方向具有角度。

7.如权利要求4至6中任一项所述的分光测定装置，其特征在于，

所述试样支撑体具有用于载置包含所述收纳部的试样容器的载置面，

所述试样支撑体以所述载置面相对于所述激发光的照射光轴的正交面倾斜的方式安装于所述试样导入开口部。

8.如权利要求7所述的分光测定装置，其特征在于，

所述试样支撑体包含具有所述载置面的倾斜构件。

9.如权利要求4或5所述的分光测定装置，其特征在于，

所述入射光学系统具有调整照射光轴相对于所述收纳部的开口面的角度的光学构件。

10.一种分光测定方法，其特征在于，

是对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定方法，

包含：

在积分器内配置所述试样的工序；

以使所述激发光的照射面积大于所述试样的被照射面积且所述激发光包含所述试样的方式向所述积分器内照射所述激发光并入射至所述试样的工序；

检测自所述积分器射出的所述被测定光的工序；及

基于所检测出的所述被测定光，计算所述试样的量子产率的工序。

11.一种试样容器，其特征在于，

是用于量子产率测定且由透明材料形成的试样容器，该量子产率测定利用了积分器，

包含：

矩形板状的板部；

设置于所述板部上的凸部；及

设置于所述凸部，且收纳作为测定对象的试样的收纳部，

所述收纳部以使照射至所述试样的激发光的照射面积大于所述试样的被照射面积且所述激发光包含所述试样的方式收纳所述试样。

12.如权利要求11所述的试样容器，其特征在于，

所述凸部的剖面为圆形状。

13.如权利要求11所述的试样容器，其特征在于，

所述收纳部的开口为具有长轴的形状。

14.如权利要求11至13中任一项所述的试样容器，其特征在于，

是通过将具有贯通孔的圆柱构件固定于板状构件的面上而形成的所述试样容器，

所述板部由所述板状构件构成，所述凸部由所述圆柱构件构成，所述收纳部由所述贯通孔构成。