[发明专利]用于分析热力发动机中的流体的机载设备和方法在审
| 申请号: | 201380072189.9 | 申请日: | 2013-12-04 |
| 公开(公告)号: | CN104969058A | 公开(公告)日: | 2015-10-07 |
| 发明(设计)人: | S·欧博尔蒂;J·富尔内尔 | 申请(专利权)人: | SP3H公司 |
| 主分类号: | G01N21/3577 | 分类号: | G01N21/3577;G01N21/27 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
| 地址: | 法国普罗旺*** | 国省代码: | 法国;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 分析 热力 发动机 中的 流体 机载 设备 方法 | ||
1.一种控制用于分析产品的光谱仪的方法,所述光谱仪包括包含多个发光二极管(LD1-LD4)的光源(LS),所述发光二极管(LD1-LD4)具有结合分析波长带的相应发射光谱覆盖,
其特征在于,所述方法包括以下步骤:
向所述发光二极管(LD1至LD4)中的至少一个提供供电电流(Ix)以使其开启,并且通过测量所述发光二极管中保持关断的至少另一个发光二极管的端子处的电流来测量所述光源(LS)发出的光强度(LFLz),
根据每个光强度测量,确定开启的每个二极管的所述供电电流的设定点值(LCx),以及
调节开启的每个二极管的所述供电电流,使得所述供电电流与所述设定点值对应。
2.根据权利要求1所述的方法,包括以下步骤:相继开启多组的至少一个发光二极管(LD1-LD4),一个组中的所述二极管具有基本相同的发射光谱,而其它发光二极管保持关断;通过保持关断的所述其它发光二极管中的每一个测量光强度(LFLz);以及根据所获得的每个光强度测量,调整开启的所述二极管的供电电流设定点值(LCx)。
3.根据权利要求1和2中的一项所述的方法,包括以下步骤:
根据所述光强度测量(LFLz),确定所述光谱仪的传感器(OPS)的光敏单元(y)的积分时间值(ITy),所述传感器(OPS)布置在所述光源发出的光束(LB)的路线上并已与待分析产品相互作用,以及
如果开启的每个二极管(LDx)的所述积分时间值和/或所述供电电流设定点值(LCx)在阈值(ITmy、ITMy、ICmx、ICMx)之间,则向开启的每个二极管提供根据设定点供电电流值调节的供电电流(Ix),将每个光敏单元的所述积分时间调整到所确定的积分时间值,并且借助所述传感器的每个单元获得光强度测量(MSxy),从而使能形成光谱。
4.根据权利要求3所述的方法,其中确定开启的每个二极管的新供电电流设定点值(LCx)和/或每个单元的积分时间(ITy),并且只要所确定的积分时间值不在所述阈值(ITmy、ITMy)之间,则向开启的每个发光二极管提供与所确定的供电电流设定点值对应的供电电流(Ix)。
5.根据权利要求1至4中的一项所述的方法,其中还根据由所述光源(LS)的光电二极管(PHD)提供的光强度测量(LFL0),和/或所述光源(LS)的温度测量(TPL),和/或开启的每个二极管的供电电流强度(Ix)或电压(Vx)的测量,调整开启的每个发光二极管的供电电流设定点(LCx)。
6.根据权利要求1至5中的一项所述的方法,包括自诊断测试步骤,所述自诊断测试步骤包括以下比较中的至少一个:进行比较以便判定光强度(LFLz)的测量,和/或向开启的二极管提供的所述供电电流的测量(Ix、Vx),和/或所述光源(LS)的温度测量(TPL)是否彼此一致以及是否与开启的发光二极管的每个供电电流设定点值(LCx)一致;将向开启的每个发光二极管提供的所述供电电流的所述设定点值与最小和最大值(LCmx、LCMx)相比较;以及如果所述比较之一发现缺陷,则将所述光谱仪切换到降级(DG)或默认(DF)操作模式(OMD)。
7.根据权利要求1至6中的一项所述的方法,包括以下步骤:考虑所述待分析产品的温度(TPP)和/或所述传感器(OPS)的温度(TPS)与基准温度之间的差来纠正所述光强度测量(MSxy),以便获得由在所述基准温度下进行的测量产生的纠正后光强度测量(MSCxy),所述纠正后测量形成纠正后光谱(MSCx(1..n))。
8.根据权利要求1至7中的一项所述的方法,包括以下步骤:针对每个发光二极管(LD1-LD4)获得纠正后光谱;以及通过应用加权因子将所获得的纠正后光谱进行求和,以便获得结果光谱(MR(1..n)),以及可能包括以下步骤:计算多个所述结果光谱的平均值,被平均光谱的数量可能取决于所述光谱仪的正常或降级操作模式(OMD)。
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