[发明专利]用于对传感器电路进行检查的方法有效

专利信息
申请号: 201380066841.6 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN104884906A 公开(公告)日: 2015-09-02
发明(设计)人: J·席林格;J·埃克里奇;G·罗姆哈特 申请(专利权)人: 大陆-特韦斯贸易合伙股份公司及两合公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;H01L23/495;H01L21/66
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 刘丹;吴鹏
地址: 德国法*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 传感器 电路 进行 检查 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于检查在保持框架上保持的传感器电路的方法以及用于实施所述方法的设备。

背景技术

由WO2010/037810AI已知一种具有传感器电路的传感器,在制造传感器时所述传感器电路在基本元件上,即所谓的布线基板上,电路连接。在制造传感器电路时,所述布线基板固定在带中,即所述保持框架中,并且与布线基板一体式地组成引线框架。为了在制造后检查所述传感器目前将布线基板从保持框架中分离出来,插接到检查设备中以及在此在其无错误的功能方面进行检验。

发明内容

本发明的任务在于,改善用于检查传感器的方法。

该任务通过独立权利要求的特征得到解决。优选的进一步扩展方案为从属权利要求的技术方案。

按照本发明的一个方面包括一种用于对保持在保持框架上的传感器电路进行检查的方法,该传感器电路连接在布线基板上,其中,布线基板通过传感器电路的两个接触端子与保持框架相连接。所给出的方法包括如下步骤:使接触端子与保持框架分离,使接触端子与检查电路电连接,以及利用所连接的检查电路对传感器电路进行检查。

所述给出的方法基于如下考虑:传感器电路通常设置用于通过感应器去检测与所要检测的测量参量相关的物理测试场并基于所检测的物理测试场输出与所要检测的测量参量相关的测量信号。因此,通常传感器电路的感应器置于以已知方式模拟所要检测的测量参量的检查用物理场并且校验:所输出的测量信号是否具有所期望的与所模拟的待检测测量参量相关的形式。

在上文所述传感器范围内,必须提前分离所述传感器电路,因为否则所述引线框架能使传感器电路短路并且使输出信号不能被检验。所述测试场也必须相对于传感器电路精确定向。这例如可以通过如下方式实现,在上述的传感器的范围内,将传感器电路从引线框架中分离出来并且在测试场中精确定位。备选地,也可以使测试场相对于传感器电路精确定向。在任一情况下必须实现精确的定向,这不仅费时,而且容易出错。

由此介入了所述的方法,在所述方法的范围内,传感器电路仅部分地与引线框架的其余部分——即保持框架——分离,所述分离在两个接触端子中的一个上实施,以隔离由保持框架造成的电短路。这样便实现了两个优点。一方面,由保持框架通过布线基板保持的传感器电路还具有由保持框架所预定的位置,所述位置与之前在布线基板装备传感器电路时的位置一样。这样,布线基板的位置以及传感器电路的位置是已知的。另一方面通过部分分离可以克服传感器电路的短路,从而可以在传感器电路上容易地施加用于测试传感器电路的检查电路。由此,此外还可以利用相同的机械装置,相对于检查电路以及其它用于对传感器电路——例如上述的感应器——进行检查的装置对保持在保持框架中的传感器电路进行机械定位,其中,所有保持在保持框架中的传感器电路可以以较低的检查耗费机械地进行测试。与现有技术相比这是决定性的优点,因为现有技术中由于测试耗费的原因仅能测试某一部分传感器电路,而没有被测试的传感器电路中可能存在一定的次品被销售。此外所有传感器电路在引线框架上原则上是并行的并且因此可以同时被测试,并且不用单个地去检测,如在前面所述的完全将传感器电路从保持框架中分离的情况那样。

在本发明方法的进一步扩展方案中,通过接触端子与布线基板相连接的保持框架与布线基板一体式地构成为引线框架。这样的引线框架可以成本有利地例如通过冲压而以条状带的形式得到。

在给出的方法的另外一种进一步扩展方案中,传感器电路具有感应器,所述感应器用于对与测量参量相关的物理场进行检测,为了对传感器电路进行检查而在感应器上施加对与测量参量相关的物理场进行模拟的测试场。这样,传感器电路可以直接地在其无错误的功能方面得到检查。

在给出的方法的一种特殊的进一步扩展方案中,用于检查传感器电路的感应器相对于测试场被定位。因为布线基板的位置、因此传感器电路的感应器的位置由为进行检查而对其进行保持的保持框架决定,所以可以基于保持框架相对于测试场对感应器进行定位。在此,该定位可以以与在给布线基板装备传感器电路的电子构件——例如感应器——时的定位相同的方式实现。这样,可以定义布线基板的位置,从而能实现布线基板与检查电路稳定、并行的接触。用于测试场的激励元件,例如测试磁场线圈此外可以固定地定位在事先定义的位置上,而保持在保持框架中的传感器电路通过保持框架同样地定位在事先定义的位置上。在此,测试场不需要持续激活,而是可以在传感器电路相对于测试场定位时才激活。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大陆-特韦斯贸易合伙股份公司及两合公司,未经大陆-特韦斯贸易合伙股份公司及两合公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380066841.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top