[发明专利]用于调整校准元件的方法及对应的装置有效
| 申请号: | 201380029201.8 | 申请日: | 2013-03-29 |
| 公开(公告)号: | CN104620089B | 公开(公告)日: | 2017-09-08 |
| 发明(设计)人: | M.克罗西 | 申请(专利权)人: | 微型金属薄膜电阻器有限公司 |
| 主分类号: | G01L9/00 | 分类号: | G01L9/00;G01L9/06;G01L9/12;G01L9/04;G01L9/10;H01C17/23;H01C17/242 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 严志军,傅永霄 |
| 地址: | 瑞士门*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 调整 校准 元件 方法 对应 装置 | ||
1.一种用于调整电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电气行为或电气特征的方法,包括通过在所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中产生一个或更多个切口或切割部(32)来调整所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电气行为或电气特征,
所述方法的特征在于,所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)包括多个孔口(34),并且所述方法包括以下操作中的至少一个:
在其边缘与所述孔口(34)中的至少一个之间产生所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中的切口或切割部;以及
在所述孔口(34)中的至少两个之间产生所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中的切口或切割部。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:
所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)为电阻元件,并且所述方法包括通过在所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中产生切口或切割部(32)来调整所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电阻;
所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)为电容元件,并且所述方法包括通过在所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中产生切口或切割部(32)来调整所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电容;
所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)为电感元件,并且所述方法包括通过在所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中产生切口或切割部(32)来调整所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电感。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多个孔口(34)中的孔口设定成以下述方式分开距离:
沿至少一条直线;以及/或者
沿至少一条曲线。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述至少一条直线为纵向线、横向线或对角线中的一种。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述至少一条曲线为圆弧。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述切口或切割部按以下产生:
沿直线,以及/或者
沿曲线;以及/或者
在所述多个孔口(34)中的孔口沿直线或曲线设定的情况下,沿正交于所述孔口(34)设定在其上的所述线的线,以及/或者沿所述孔口(34)设定在其上的所述线。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述曲线为圆弧。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述孔口(34)具有选自以下的区段:
没有顶点或转角的轮廓;
多边形轮廓,其中所有顶点都具有大于90°的内角;以及/或者
由弯曲伸展和线性伸展构成的轮廓。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述没有顶点或转角的轮廓包括圆形、椭圆形或卵形的轮廓。
10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述由弯曲伸展和线性伸展构成的轮廓包括多边形轮廓,其中所有所述顶点都具有弯曲伸展,包括在两个线性伸展之间的弯曲伸展。
11.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中产生的所述切口或切割部(32)经由激光切割或切口、微磨损和/或喷磨获得。
12.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括经由模拟、处理和/或测量确定由所述电气校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中的所述切口或切割部(32)引起的所述电气行为或电气特征的变化。
13.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述孔口(34)具有宽度和长度,所述孔口(34)的宽度和/或长度大于所述切口或切割部(32)的宽度。
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