[发明专利]触摸面板用膜、采用该膜的触摸面板以及与该膜一起使用的触控笔

说明书

技术领域

本发明涉及触摸面板用膜、采用该膜的触摸面板以及与该膜一起使用的触控笔(stylus pen)，例如涉及将手指或触控笔等指示体所接触到的画面上的位置作为坐标信息来获取的静电电容方式的触摸面板用膜、采用该膜的触摸面板以及与该膜一起使用的触控笔。

背景技术

近年来，在迅速普及的智能手机或平板电脑等便携信息终端中，多采用能够进行多点触控(multi-touch)操作的投影型的静电电容方式的触摸面板。

对于该投影型的静电电容方式的触摸面板的构造，使用图11(分解图)进行简单说明。图11所示的静电电容方式的触摸面板50，例如在透明的绝缘膜53的背面侧形成具有用于进行Y方向的坐标检测的多个电极的氧化铟锡膜(以下称为ITO膜)51，在表面侧形成具有用于进行X方向的坐标检测的多个电极的ITO膜52。

上述ITO膜51在Y方向上设有多行在X方向上连结且相互电连接的多个菱形的电极焊盘(electrode pad)54(传感电极(sensor electrode))，上述ITO膜52在X方向上设有多列在Y方向上连结且相互电连接的多个菱形的电极焊盘55(传感电极)。各电极焊盘54、55具有对于产生能够检测出指示体(手指或触控笔等)的接触位置的静电电容(约1pF)的变化而言足够的面积，例如其对角线的宽度形成为5mm左右。

形成有上述ITO膜51、52的绝缘膜53在俯视下如图12所示那样形成将各电极焊盘54、55空出规定的间隙在面方向上配置而得到的二维格子状的构造。

对于该触摸面板50，若隔着罩体玻璃(未图示)例如使指尖接触，则在X方向上连结的电极焊盘54中，接触位置的电极焊盘54的静电电容变化为规定值以上。由此检测Y方向的坐标位置。

并且，在Y方向上连结的电极焊盘55中，接触位置的电极焊盘55的静电电容变化为规定值以上。由此检测X方向的坐标位置。

另外，上述静电电容方式的触摸面板50中，如果不像以上所述那样使手指或触控笔的接触部位产生规定以上的静电电容(约1pF)的变化，则无法检测出该位置。因此，以往，对静电电容方式的触摸面板的输入操作通过以比电极焊盘54、55的面积大的接触面积实现接触的导电性的触控笔或者指尖等进行，能够使位置检测所需的静电电容变化发生(接触面积较小时不发生位置检测所需的静电电容的变化)。

另外，关于投影型静电电容方式的触摸面板的现有技术，例如记载于专利文献1。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008-310551号公报

发明概要

发明要解决的课题

但是，通过上述导电性的触控笔向静电电容方式的触摸面板进行输入时，如上所述限于笔尖较粗的情况(例如直径5mm(接触面积约19.6mm²)以上)，因此存在有损操作性及操作时的视觉识别性、使用感这样的课题。

为了解决上述课题，可以考虑简单地将触摸面板的传感电极进一步细分化，减小在各传感电极上可检测出的静电电容的变化量，但是该情况下必须检测出更加微弱的电流变化，存在发生误检测的可能性增大的课题。

另外，若将传感电极细分化则电极个数增加，因此用于求取触摸位置的运算量大幅增大。因此，在进行运算的控制部的处理能力不足的情况下，触摸位置检测无法追随触摸操作，在显示等中发生延迟，存在使用性降低的课题。另外，在使控制部的处理能力提高以便触摸位置检测能够追随触摸操作的情况下，存在耗电增大、成本更高的课题。

发明内容

本发明着眼于上述问题点，目的在于提供一种设置在将指示体接触到的画面上的位置作为坐标信息来获取的静电电容方式的触摸面板上，即使指示体的接触面积是比以往更小的接触面积也能够检测出接触位置的触摸面板用膜、以及采用该膜的触摸面板，并且，提供一种与上述触摸面板用膜一起使用的触控笔，即使笔尖较细也能够检测出接触到的画面上的位置，能够提高操作性以及操作时的视觉识别性和使用感。

用于解决课题的手段