[发明专利]测量容器中的玻璃分布的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201380017757.5 申请日: 2013-03-27
公开(公告)号: CN104395693A 公开(公告)日: 2015-03-04
发明(设计)人: 纪尧姆·巴特莱 申请(专利权)人: MSC&SGCC公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;G01N21/90;G01N33/38;G01B11/06;B07C5/12
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳;郑特强
地址: 法国武*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 测量 容器 中的 玻璃 分布 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种对正在离开成形腔(4)的处于高温的多个玻璃容器(2)的玻璃的厚度分布进行测量的方法,所述方法应用至少一个对所述容器(2)发出的红外辐射(6)感应的传感器,所述传感器适合于产生红外辐射的分布图像,其特征在于,所述方法对于每个容器都包括以下步骤:

-选择所述容器(2)的至少一个检测区域(Z),使得作为具有红外辐射强度的函数的玻璃厚度的关系在整个所述检测区域(Z)上是均匀的;

-对于每个检测区域(Z),借助非接触点状厚度测量系统(11),在属于所述检测区域(Z)的至少一个测量点处,测量所述容器的玻璃厚度;

-至少在每个检测区域(Z)中,借助对红外辐射(6)感应的传感器测量由所述容器(2)发出的红外辐射的分布;

-对于每个检测区域(Z),确定在所述测量点处的厚度的测量值与所述测量点处的相关的红外辐射之间的关系;

-以及由所述关系和每个检测区域的相关红外辐射的分布,确定所述容器在每个检测区域(Z)的玻璃厚度的分布。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括借助所述点状测量系统沿垂直于所述容器(2)的表面的方向测量所述容器的玻璃厚度。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法包括在相邻的多个不同的测量点处测量所述容器(2)的玻璃厚度,所述测量点沿着所述容器(2)的截面的一部分(Δ)定位,以使所述测量点处的厚度的测量值是可靠的。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括测量由所述容器(2)的每个检测区域(Z)发出的红外辐射,所述检测区域相对于对红外辐射(6)感应的所述传感器而言位于所述容器的前部表面。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括使用从一个或数个厚度测量点和每个检测区域(Z)的红外辐射所确定的数学模型,作为厚度测量值与红外辐射之间的关系。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括选择所述检测区域(Z),使得对于每个检测区域(Z),除所述玻璃厚度以外的影响所述红外辐射的参数均在整个所述检测区域(Z)上具有大致均匀的值。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括选择所述容器的检测区域(Z),使得对于每个检测区域(Z),所述容器的形状和/或表面状况为基本恒定。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法包括选择所述容器的多个检测区域(Z),使得对于每个检测区域(Z),所述容器的斜率为基本恒定。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括选择所述容器(2)的数个检测区域(Z),以通过结合获得所述容器的部分或完整的三维表达。

10.根据权利要求1-9中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括选择对所有容器都同样的检测区域(Z),或选择根据所述容器的原始空腔(4)改变的检测区域(Z),或选择对于每个容器取决于红外辐射分析所确定的检测区域(Z)。

11.根据权利要求1-10中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括过滤由所述非接触点状测量系统(11)进行的玻璃厚度测量值以及红外辐射测量值,以便抑制异常测量值。

12.一种测量正在离开成形腔(4)的多个玻璃容器(2)的玻璃的厚度分布的装置,包括至少一个传感器,所述传感器对所述容器(2)发出的红外辐射(6)进行感应,并且能够在至少一个检测区域(Z)中确定红外辐射的分布,且连接到控制和处理单元(10),其特征在于,所述装置包括至少一个非接触点状厚度测量系统(11),在属于所述测量区域(Z)的至少一个测量点(P)处,所述非接触点状厚度测量系统适合于沿垂直于所述容器的表面的方向测量所述容器的玻璃厚度,所述点状测量系统(11)连接到所述处理单元(10),所述处理单元包括用于确定在测量点处测得的厚度的测量值与在所述测量点处的相关红外辐射之间的关系的器件,以及由所述关系和所述检测区域上的相关红外辐射确定所述容器在整个所述检测区域上的玻璃厚度的分布的器件。

13.根据权利要求12所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置包括作为非接触点状厚度测量系统(11)的具有颜色编码的共焦系统或激光三角测量仪。

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