[发明专利]可再构成的半导体装置有效

专利信息
申请号: 201380016484.2 申请日: 2013-02-14
公开(公告)号: CN104205639B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 佐藤正幸;佐藤幸志 申请(专利权)人: 太阳诱电株式会社
主分类号: H03K19/177 分类号: H03K19/177
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 路勇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 构成 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其特征在于:是可再构成的半导体装置;且

包括配置成阵列状的多个电路单元;

所述多个电路单元的每一个包括模拟数字转换器、处理器、数字模拟转换器、及运算放大器;

由所述多个电路单元的每一个的模拟数字转换器、数字模拟转换器及运算放大器对作为再构成对象的模拟电路分割为多个功能模块,并对功能模块进行电路构成,且将该电路构成的多个电路单元中的任一个互相以模拟开关连接,由此构成所述再构成对象的模拟电路。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中所述多个电路单元是通过配置在下部的配线板而互相连接。

3.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其还包括存储器。

4.根据权利要求3所述的半导体装置,其中所述存储器存储成为所述再构成对象的模拟电路的电路描述;且

所述多个电路单元的每一个以如下方式动作:当起动时读取所述电路描述,并通过所述模拟开关而再构成所述各电路单元内的电路。

5.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其构成所述再构成对象的模拟电路,并电性验证所述再构成对象的模拟电路的功能。

6.根据权利要求5所述的半导体装置,其还包括存储器,所述存储器存储判定所述电性验证的结果合理与否的数据。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于太阳诱电株式会社,未经太阳诱电株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380016484.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top