[发明专利]存储器及感测参数确定方法

权利要求书

1.一种操作存储器的方法，其包括：

创建所述存储器的经感测数据的直方图；

过滤所述直方图；

使用经过滤直方图调整用以再感测所述存储器的参数；以及

确定经过滤直方图的搜索区域中的局部最小值，其中所述局部最小值包含最低局部最小值及最高局部最小值，其中调整用以再感测所述存储器的参数包括使用所述最低局部最小值与所述最高局部最小值的平均值调整所述参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述搜索区域包括与所述参数的初始值相关联的经感测数据的范围。

3.根据权利要求1所述的方法，其中过滤所述直方图包括对所述直方图的每一经感测数据周围的范围中的多个经感测直方图数据求平均。

4.根据权利要求3所述的方法，其中求平均进一步包括加权平均。

5.根据权利要求4所述的方法，其中加权平均包括相等地加权多个经感测直方图数据中的每一者。

6.根据权利要求4所述的方法，其中加权平均包括按所述经感测数据的权重的部分量加权紧邻所述经感测数据的多个经感测直方图数据中的每一者。

7.根据权利要求1所述的方法，其中过滤所述直方图包括对所述直方图的每一经感测数据周围的范围中的多个经感测直方图数据求和。

8.根据权利要求7所述的方法，其中求和进一步包括加权求和。

9.根据权利要求8所述的方法，其中加权求和包括按所述经感测数据的权重的部分量加权紧邻所述经感测数据的局部权重量处的多个经感测直方图数据中的每一者。

10.根据权利要求1所述的方法，其中过滤所述直方图包括使所述直方图平滑化。

11.根据权利要求1所述的方法，其中所述经感测数据包括所述存储器的多个存储器单元的阈值电压电平。

12.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括将偏移应用到所述经调整参数。

13.一种电子装置，其包括：

存储器；以及

控制器，其经配置以：

创建所述存储器的经感测数据的直方图；

过滤所述直方图；

使用经过滤直方图调整用以感测所述存储器的参数；以及

确定经过滤直方图的搜索区域中的局部最小值，其中所述局部最小值包含最低局部最小值及最高局部最小值，其中使用所述最低局部最小值与所述最高局部最小值的平均值来调整用以再感测所述存储器的所述参数。

14.根据权利要求13所述的电子装置，其中所述存储器为存储器装置的存储器单元，且其中所述控制器包括所述存储器装置的操作性地耦合到所述存储器单元的内部控制器。

15.根据权利要求13所述的电子装置，其中所述存储器为存储器装置的存储器单元，且其中所述控制器包括操作性地耦合到所述存储器装置的外部控制器。