[发明专利]偏光薄膜、图像显示装置、以及偏光薄膜的制造方法无效
| 申请号: | 201380002460.1 | 申请日: | 2013-01-08 |
| 公开(公告)号: | CN103718074A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
| 发明(设计)人: | 中西贞裕;黑木美由纪 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
| 主分类号: | G02B5/30 | 分类号: | G02B5/30;C09B31/08;G02F1/1335 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 偏光 薄膜 图像 显示装置 以及 制造 方法 | ||
1.一种偏光薄膜,其包含用下述通式(1)表示的双偶氮化合物,
式(1)中,Q1表示具有至少1个-SO3M基的苯基,Q2表示具有至少1个-SO3M基的亚萘基,X表示碳数1~4的烷基、碳数1~4的烷氧基、碳数1~4的硫代烷基、卤代基、或极性基,下标k表示所述X的取代数即0~5的整数,M表示抗衡离子,所述k为2以上的整数时,所述X分别相同或不同。
2.根据权利要求1所述的偏光薄膜,其中,所述Q2为用下述通式(Q2-1)表示的亚萘基,
式(Q2-1)中,Z表示除-SO3M基以外的取代基,下标o表示Z的取代数即0~5的整数,下标n表示-SO3M基的取代数即1~6的整数,1≤n+o≤6,所述o为2以上时,所述Z分别相同或不同。
3.根据权利要求1所述的偏光薄膜,其中,所述Q2为下述任一式所表示的亚萘基,
4.根据权利要求1~3中任一项所述的偏光薄膜,其中,所述Q1为用下述通式(Q1-1)表示的苯基,
式(Q1-1)中,Y表示除-SO3M基以外的取代基,下标m表示Y的取代数即0~4的整数,下标l表示-SO3M基的取代数即1~5的整数,1≤l+m≤5,所述m为2以上时,所述Y分别相同或不同。
5.根据权利要求1~3中任一项所述的偏光薄膜,其中,所述Q1为下述任一式所表示的苯基,
6.一种图像显示装置,其具备权利要求1~5中任一项所述的偏光薄膜。
7.一种偏光薄膜的制造方法,其具备将包含用下述通式(1)表示的双偶氮化合物和溶剂的涂布液涂覆在基材上的工序,
式(1)中,Q1表示具有至少1个-SO3M基的苯基,Q2表示具有至少1个-SO3M基的亚萘基,X表示碳数1~4的烷基、碳数1~4的烷氧基、碳数1~4的硫代烷基、卤代基、或极性基,下标k表示所述X的取代数即0~5的整数,M表示抗衡离子,所述k为2以上的整数时,所述X分别相同或不同。
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