[实用新型]绝缘子表面电导率采样装置所用的引流结构

权利要求书

1.一种绝缘子表面电导率采样装置所用的引流结构，其特征在于，包括第一金属半环和第二金属半环，所述第一金属半环与第二金属半环围成圆环套接在棒形绝缘子的接地端，所述圆环通过引流线连接至泄露电流传感器。

2.根据权利要求1所述的绝缘子表面电导率采样装置所用的引流结构，其特征在于，所述圆环固定在所述棒形绝缘子最低端的绝缘伞片上，且与所述绝缘伞片的伞面紧密贴合。

3.根据权利要求2所述的绝缘子表面电导率采样装置所用的引流结构，其特征在于，所述圆环的内径227mm、外径为237mm、高度为25mm。

4.根据权利要求1、2或3所述的绝缘子表面电导率采样装置所用的引流结构，其特征在于，所述第一金属半环与第二金属半环之间通过螺栓紧固闭合。