[实用新型]一种热敏电阻芯片测试分拣装置

说明书

技术领域

     本实用新型涉及一种测试分拣装置，尤其涉及一种热敏电阻芯片测试分拣装置。

背景技术

市面上热敏电阻的芯片测试分拣多为人工或手动，操作不便、时效不高、产能有限、精度难保。

实用新型内容

     本实用新型目的在于解决市面上热敏电阻的芯片测试分拣多为人工或手动，操作不便、时效不高、产能有限、精度难保的不足而提供的一种新型芯片测试分拣装置。

     本实用新型是通过以下技术方案来实现的：一种芯片测试分拣装置，包括振动送料装置、测试装置，所述振动送料装置左侧设有测试装置，所述振动送料装置包括振动送料控制器、螺旋振动台、直线振动台，所述振动送料控制器分别与所述螺旋振动台和所述直线振动台连接，所述测试装置包括测试装置支架、测试平台、测试探头机构、芯片分拣机构、分拣收料盒、测试分拣仪，所述测试装置支架上方设有测试平台，所述测试探头机构位于所述测试平台一侧，所述测试探头机构下方正对与所述直线振动台，所述芯片分拣机构位于所述测试探头机构下方，所述分拣收料盒位于所述测试装置支架下方，所述测试分拣仪位于所述测试装置左侧。

     进一步地，所述芯片测试分拣装置还包括封闭罩、恒温送风机构，所述封闭罩罩合所述振动送料装置及测试装置，所述恒温送风机构位于所述封闭罩左侧。

     进一步地，所述直线振动台中间设有一输料槽，所述输料槽一端连接在螺旋振动台上端输料口，另一端正对测试探头机构。

     进一步地，所述芯片分拣机构包括分拣驱动装置和分拣装置，所述分拣驱动装置一端连接分拣装置，所述分拣驱动装置可以控制分拣装置左右转动。

     进一步地，所述测试装置支架为可调试测试装置支架。

 进一步地，所述可调试测试装置支架包括可调试支座、滑杆、滑槽，所述可调试支座上方设有滑杆，所述滑槽套合在所述滑杆上，所述滑槽一侧设有紧固螺丝，另一端固定支撑测试平台。

进一步地，所述分拣收料盒分为左右分拣收料盒。

    使用时，将电阻芯片置于螺旋振动台内，经过振动排序后，将整理好的芯片送入直线振动台，直线振动台将芯片整理排列，按一定速度送到指定的检测位置进行检测，检测后的相关信息经由测试分拣仪发出信号，通过芯片分拣机构中的推拉电磁铁带动分拣拨叉，对测试探头机构后的芯片分拣机构进行分拣，测试探头机构后的芯片通过分拣拨叉控制，落入指定的分拣收料盒内，达到芯片在封闭罩中测试分拣仪的目的。

    本实用新型的有益效果在于：结构简单、操作方便、节省人力、自动高效、精度准确。

附图说明

图1为本实用新型芯片测试分拣装置结构示意图；

图2为本实用新型芯片测试分拣装置俯视结构示意图；

      附图标记：1、振动送料装置；11、振动送料控制器；12、螺旋振动台；13、直线振动台；1301、输料槽；2、测试装置；21、测试装置支架；2101、可调试支座；2102、滑杆；2103、滑槽；2104、紧固螺丝；22、测试平台；23、测试探头机构；24、芯片分拣机构；2401、分拣驱动装置；2402、分拣装置；25、分拣收料盒；26、测试分拣仪；3、封闭罩；4、恒温送风机构。

具体实施方式

     下面结合附图及具体实施方式对本实用新型做进一步描述：   

     如图1、图2所示：一种芯片测试分拣装置，包括振动送料装置1、测试装置2，所述振动送料装置1左侧设有测试装置2，所述振动送料装置1包括振动送料控制器11、螺旋振动台12、直线振动台13，所述振动送料控制器11（2个）一端分别与所述螺旋振动台12和所述直线振动台13连接，所述测试装置2包括测试装置支架21、测试平台22、测试探头机构23、芯片分拣机构24、分拣收料盒25、测试分拣仪26，所述测试装置支架21上方设有测试平台22，所述测试探头机构23位于所述测试平台22一侧，所述测试探头机构23下方正对与所述直线振动台13，所述芯片分拣机构24位于所述测试探头机构23下方，所述分拣收料盒25位于所述测试装置支架21下方，所述测试分拣仪26位于所述分拣收料盒25左侧。

     优选地，所述芯片测试分拣装置还包括封闭罩3、恒温送风机构4，所述封闭罩3罩合所述振动送料装置1及测试装置2，所述恒温送风机构4位于所述封闭罩3左侧。