[实用新型]改进的X光机平面检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种X光机设备，特别涉及一种改进的X光机平面检测装置。

背景技术

X光机作为诊断和检测手段，是一门应用十分广泛的实用技术，在今天，X光机检测结构的获取和处理技术已经成为X光机发展的核心和关键，也是区分X光机类别的重要技术特征，目前常规的X光机通常设计为探测器沿光管发光点弧形轨迹运动来实现观察物体侧面的缺陷，这种设计方法，缺陷是探测器所接受投影过来的图形是变形的，放大倍率精度不高，也不能有效的对图形进行对比，无法很精准的判断检测结果。

发明内容

为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种放大倍率一致，图形不变形，便于对比判断的改进的X光机平面检测装置。

本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种改进的X光机平面检测装置，包括探测器，载物台和光管，所述探测器设于载物台上方，所述光管设于载物台下方，所述光管固定在X光机上，所述光管的上方设有相互平行且横向设置的上滑轨和下滑轨，所述探测器滑动设于上滑轨上，所述载物台滑动设于下滑轨上。

本实用新型的有益效果是：本实用新型更改原有的探测器沿光管发光点弧形轨迹运动的方式，而是设计探测器和载物台是任意方向上平行运动来观察载物台上被检测物的侧面，这种结构的优点是保证了放大倍率的一致性，便于测量，而且图形不会变形，方便对比判断检测结果，能够有效的改善检测结果的准确性。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图中标示：1-探测器；2-载物台；3-光管；4-上滑轨；5-下滑轨。

具体实施方式

为了加深对本实用新型的理解，下面将结合实施例和附图对本实用新型作进一步详述，该实施例仅用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型保护范围的限定。

图1示出了本实用新型一种改进的X光机平面检测装置的一种实施方式，包括探测器1，载物台2和光管3，所述探测器1设于载物台2上方，所述光管3设于载物台2下方，所述光管3固定在X光机上，所述光管3的上方设有相互平行且横向设置的上滑轨4和下滑轨5，所述探测器1滑动设于上滑轨4上，所述载物台2滑动设于下滑轨5上，探测器1和载物台2是任意方向上平行运动来观察载物台2上被检测物的侧面，保证了放大倍率的一致性，便于测量判断。