[实用新型]一种可调角度块辅助测量装置

说明书

本实用新型涉及一种测量装置，尤其涉及一种可调角度块辅助测量装置，专用于测量手表表壳的足面到耳孔之间距离。

在手表加工领域中，需要对表壳足头上的足面到耳孔的距离进行测量，以便表带能够精确的安装在足头上。但由于表壳属于精密器械，且整体尺寸较小，足面到耳孔的距离难以测量，此外，足面与表壳主体之间并非平行或垂直的关系，这种情况加剧了精确测量的困难。

实际生产过程中，如果采用人工夹持表壳进行测量，会出现夹持不稳的问题，以至于操作人员在测量中无法找平，难以保证测量尺寸的精确。

即使研发一种专门测量足面到耳孔的距离的装置，也只能对一种固定尺寸的表壳进行测量，对于其他尺寸的表壳无法使用；如果根据每一种表壳尺寸而制作一个测量装置，需要制作的测量装置的数量非常多，占用空间大且不易保管，增加了制作成本。

本实用新型为了解决上述技术问题，提供一种可调角度块辅助测量装置，它具有使用简便、节省成本等优点。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案。

一种可调角度块辅助测量装置，包括基座、可调块、销轴、滑槽和刻度盘，所述基座包括依次固定连接的第一底块、第一中块和上块；所述可调块包括固定连接的第二底块和第二中块，所述第二中块与上块通过销轴铰接；所述第一中块的侧面固定有刻度盘，所述刻度盘上刻有角度，所述第二中块的侧面上刻有对齐线，对齐线能够对准刻度盘上的刻度；所述第二中块与滑槽的一端固定，滑槽能够通过调节螺钉固定在第一中块的侧面。

所述刻度盘上的角度为0‑90°。

作为本实用新型的进一步改进，所述可调角度块辅助测量装置还包括垫块，垫块放置在第二底块和第二中块的交界处，并靠在第二中块上，表壳通过垫块放置在可调块上。

进一步地，可调角度块辅助测量装置还包括第一磁铁，所述垫块为第二磁铁，表壳固定在第一磁铁和第二磁铁之间，通过第一磁铁和第二磁铁的引力加强固定。

所述第二磁铁的重量为表壳重量的7‑20倍,便于第二磁铁稳定放置，进而防止表壳移动。

本实用新型还提供了一种可调角度块辅助测量装置的测量方法，工作过程为：

步骤（1），根据被测表壳足面与表壳的角度，调整可调块的位置，调节对齐线对齐的刻度盘上的刻度，使足面与水平方向平行，旋紧调节螺钉固定可调块；

步骤（2），选择合适圆棒穿入被测表壳的耳孔，并把被测表壳放于可调块上；

步骤（2），选择合适圆棒穿入被测表壳的耳孔，并把被测表壳放于可调块上；

步骤（3），把量表表针放于圆棒顶端，并旋转量表表圈，使其归零；

步骤（4），将量表放于被测表壳的足面上，读出量表数值，减去耳孔半径，即是要测量值。

作为进一步改进，所述步骤（1）之前，还包括：将垫块放置在可调块上；

进一步地，所述步骤（2）中，在把被测表壳放于可调块上后，还包括将第一磁铁与第二磁铁吸合的步骤。

本实用新型的有益效果：通过找平足面，能够准确地测量足面至耳孔中心的精确距离，表带能够精确的安装在足头上；另外，本实用新型能够适用于多种尺寸表壳的测量，占用空间小且容易保存，节省了制造成本。

图1是本实用新型实施例1的整体结构示意图。

图2是本实用新型实施例1的侧面结构示意图。

图3是本实用新型实施例2的侧面结构示意图。

其中，1、基座；2、可调块；3、销轴；4、滑槽；5、刻度盘；6、第一底块；7、第一中块；8、上块；9、第二底块；10、第二中块；11、对齐线；12、调节螺钉；13、垫块；14、表壳；15、圆棒，16、足面；17、第一磁铁；18、第二磁铁。

下面结合附图与实施例对本实用新型作进一步说明。

实施例1：

如图1‑图2所示，一种可调角度块辅助测量装置，包括基座1、可调块2、销轴3、滑槽4和刻度盘5，所述基座1包括依次固定连接的第一底块6、第一中块7和上块8；所述可调块2包括固定连接的第二底块9和第二中块10，所述第二中块10与上块8通过销轴3铰接；所述第一中块7的侧面固定有刻度盘5，所述刻度盘5上刻有0‑90°的角度，所述第二中块10的侧面上刻有对齐线11，对齐线11能够对准刻度盘5上的刻度；所述第二中块10与滑槽4的一端固定，滑槽4能够通过调节螺钉12固定在第一中块7的侧面。

所述可调角度块辅助测量装置还包括垫块13，垫块13放置在第二底块9和第二中块10的交界处，并靠在第二中块10上，表壳14通过垫块13放置在可调块2上。

本实施例的工作过程为：