[发明专利]一种薄膜取向特性检测装置及其应用

说明书

技术领域

本发明属于传感器领域，涉及与薄膜拉伸程度相关的薄膜取向特性检测装置。 

背景技术

薄膜的取向特性由于其在包括显示、传感及生物医学领域的广泛应用前景而受到人们的高度重视。而另外一方面，人们的研究也表明薄膜的拉伸能够影响薄膜的取向特性，因此探讨薄膜的拉伸程度与薄膜的取向特性间的关系由于其在包括显示、传感领域的潜在应用价值而具有重要的意义。 

然而，目前人们探讨薄膜的拉伸程度与薄膜的取向特性间的关系均通过先独立获取不同拉伸程度的薄膜，然后再将这些薄膜通过相关的偏振光谱以检测这些薄膜的取向特性。而独立获取不同拉伸程度的薄膜后再进行相关取向特性的检测不仅引入了操作误差及不同薄膜带来的差异性，需要检测的薄膜数量将大大增加，而且对于一些强度较低、较薄从而难以操作的薄膜，其拉伸程度与取向特性间的关系的检测将变得非常困难。为此本发明首次提出将能够拉伸薄膜的固定组件及薄膜长度测量组件与能够将固定的薄膜与偏振光谱光路匹配的支架结合，从而可以接近在线的方式同时检测薄膜的拉伸程度及薄膜的取向特性，因此有利于取向功能薄膜的进一步开发与应用。 

发明内容

技术问题：本发明的目的是提供一种适用于同时检测薄膜拉伸程度与取向特性的装置，有利于方便、准确检测同一薄膜的拉伸程度与取向特性间的关系，因此有利于取向功能薄膜的进一步开发与应用。 

技术方案：本发明的一种薄膜取向特性检测装置由用于固定薄膜的薄膜固定组件、用于测量薄膜长度的长度测量组件及承载上述组件使得薄膜能够位于光谱通路的支架组成；其中，支架中的底座位于该装置的最底部，量具及薄膜固定平台通过平台 固定螺丝固定在支架； 

薄膜固定组件中的固定端位于薄膜固定平台上，移动端位于固定端的上方，测试薄膜位于移动端与固定端之间；长度测量组件中的主尺竖直固定在薄膜固定平台上，副尺由副尺固定螺丝固定在主尺的侧面，副尺的外端与移动端连接。 

所述的偏振光谱包括偏振红外光谱、偏振拉曼光谱、偏振紫外可见吸收光谱。 

所述薄膜为光通透性薄膜。 

该装置的使用方法如下： 

首先通过薄膜固定组件的固定端固定测试薄膜的一端，而移动端固定测试薄膜的另外一端并调整移动端使得测试薄膜平展固定，此时长度测量组件测定测试薄膜原始长度。将该装置置于光谱仪中并调节支架使得薄膜置于光谱光路上检测薄膜原始偏振光谱，然后控制移动端拉伸测试薄膜，通过长度测量组件获取拉伸后测试薄膜的长度，然后进一步检测拉伸后测试薄膜的偏振光谱，重复上述过程即可同时检测薄膜的拉伸程度及薄膜材料的取向特性的变化。 

有益效果：本发明与现有技术相比，具有以下优点： 

本申请首次将薄膜拉伸程度与薄膜取向特性检测功能统合至一个装置上，从而可以同时检测薄膜拉伸程度及薄膜取向特性，因此不仅可以减少操作误差、不同薄膜间的差异引入的误差，而且使得其能够适用于一些薄且强度较弱的薄膜的拉伸程度与取向特性的检测，因此有助于功能取向薄膜的进一步开发与应用。 

附图说明

图1为薄膜取向特性检测装置示意图。 

1、支架；底座1a，量具及薄膜固定平台1b，平台固定螺丝1c， 

2、长度测量组件；主尺2a，副尺2b，副尺固定螺丝2c， 

3、薄膜固定组件；移动端3a，固定端3b，测试薄膜3c。 

图2为二向色性比对拉伸率示意图。 

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。 

图1给出了薄膜取向特性检测装置的示意图。该装置由支架1、长度测量组件2及薄膜固定组件3组成。支架1由底座1a及通过平台固定螺丝1c固定在底座上的量具及薄膜固定平台1b组成。长度测量组件2及薄膜固定组件3通过量 具及薄膜固定平台固定在支架上。长度测量组件包括固定的主尺2a及可以在主尺上滑移以进行测量的副尺2b组成，副尺可以通过副尺固定螺丝2c而在主尺上固定。而薄膜固定组件则由固定端3b、移动端3a及测试薄膜3c组成。其中固定端位于量具及薄膜固定平台1b上并且相对平台固定不动，而移动端则与长度测量组件2中的副尺2b相连并可通过副尺固定螺丝2c而固定。