[发明专利]一种基于相关峰的可变间距采样多径检测方法

权利要求书

1.一种基于相关峰的可变间距采样多径检测方法，其特征在于，包括：如下步骤：

第一步：采用m个相关器对相关峰信号进行采样，采样后的相关峰信号输入至卡尔曼滤波器中；

第二步：卡尔曼滤波器获得相关峰信号R_s(τ)_k+1后，对直达信号的状态向量进行预测，预测的状态向量为包括幅度预测值时延预测值和相位预测值

则多径信号为R1(τ)k+1=Rs(τ)k+1-Rref(x‾k+1);]]>

其中R_ref(·)为参考相关函数，τ为时延量；

第三步：计算获得多径信号R₁(τ)_k+1在k+1时刻的状态向量的测量值y_k+1，包括相位测量值时延的测量值和幅度测量值

第四步：根据上述多径参数的测量值y_k+1，获得k+1时刻相关峰采样中的多径成分R_ref(y_k+1)，则剥离多径成分后的直达信号为R₀(τ)_k+1＝R_s(τ)_k+1-R_ref(y_k+1)；

计算获得R₀(τ)_k+1在k+1时刻的状态向量的估计值其中包括相位估计值时延估计值以及幅度估计值

第五步：使用上述估计值对m个相关器进行反馈控制；其中m个相关器采用m阶矩阵l来控制，其中l=[l₁、l₂、l₃…l_m-1、l_m]，则本步骤中对l的控制为：

l_k+1=l_k+L_k+1

其中l₀=0，L_k+1为k+1时刻的L矩阵，L_k+1由滤波器估计误差的方差P_k+1、测量噪声方差R_k+1和过程噪声方差Q_k+1共同产生，其中对于卡尔曼滤波器，测量噪声方差R_k+1和过程噪声方差Q_k+1为已知量；则估计误差的方差P_k+1由下式确定：

Pk+1=E(ek+1ek+1T)ek+1=Rs(τ)k+1-Rref(x^k+1)-Rref(yk+1);]]>

其中E(·)为·的均值。