[发明专利]电子设备检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备领域，特别涉及一种电子设备检测方法及装置。

背景技术

随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得终端成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分，例如：手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑等电子设备已经得到普遍应用。

其中，适用于电子设备的应用也越来越多，在使用应用过程中会产生很多垃圾缓存，占用了电子设备仅有的内存空间，从而影响到电子设备的运行速度，最终降低了电子设备当前的性能；同时，各种类型的病毒、漏洞层出不穷，且表现更加隐蔽，导致危害程度更高，这无疑也将降低电子设备当前的性能。当然，在用户使用电子设备的过程中，还存在影响电子设备当前的性能的其他问题。

综上，为了用户更好的了解电子设备，以便后续对电子设备的使用与处理，对电子设备的当前综合性能的确定是非常重要的工作环节之一。

发明内容

基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备检测方法及装置，以确定出电子设备的当前综合性能。技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备检测方法，包括：

接收开始检测指令；

响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；

根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；

依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；

依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。

优选的，依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，包括：

将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；

确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；

将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。

优选的，所述单一性能状态包括：扣分值；

相应的，将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目，包括：

将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。

优选的，依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

Y=Xmin+(D-arctan(x/10)π/2*D);]]>

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，为修正后的扣分总值。

优选的，依据所述待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：