[发明专利]电子设备检测方法及装置

权利要求书

1.一种电子设备检测方法，其特征在于，包括：

接收开始检测指令；

响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；

根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；

依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；

依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，包括：

将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；

确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；

将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述单一性能状态包括：扣分值；

相应的，将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目，包括：

将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

Y=Xmin+(D-arctan(x/10)π/2*D);]]>

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，为修正后的扣分总值。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，依据所述待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

Y=Xmin+(D-arcsin(x/10)π/2*D);]]>

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，为修正后的扣分总值。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述待检测项目包括：

垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类；

其中，所述垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。