[发明专利]光纤损耗测量系统有效

专利信息
申请号: 201310633819.7 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN103616165A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 巩马理;闫平;付晨;肖起榕;张海涛 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李迪
地址: 100084 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 光纤 损耗 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种光纤损耗测量系统,其特征在于,包括:

激光信号发生器,用于产生激光,并将所述激光注入被检测光纤的纤芯;

光纤输出探测组件,用于将所述被检测光纤的纤芯光场和包层光场分离,并根据所述分离得到的纤芯光场和包层光场测量所述被检测光纤的纤芯损耗和包层损耗。

2.根据权利要求1所述的光纤损耗测量系统,其特征在于,根据所述分离得到的纤芯光场和包层光场测量所述被检测光纤的纤芯损耗和包层损耗包括:

分别对所述纤芯光场和所述包层光场进行测量,对所述测量的结果进行放大、补偿和分析,以得到所述被检测光纤的纤芯损耗和包层损耗。

3.根据权利要求1所述的光纤损耗测量系统,其特征在于,所述光纤输出探测组件包括成像组件、面阵光电探测器以及差动放大电路;

所述成像组件将所述被检测光纤的包层的输出光和所述纤芯的输出光在所述面阵光电探测器上成像,以便在所述面阵光电探测器上形成所述被检测光纤输出光的光斑图像,所述面阵光电探测器根据所述光斑图像分别对所述纤芯光场和所述包层光场进行测量,所述差动放大电路对所述测量的结果进行放大处理。

4.根据权利要求1所述的光纤损耗测量系统,其特征在于,所述光纤输出探测组件包括反射镜、第一光探测器、第二光探测器和差动放大电路;

所述反射镜将所述纤芯的输出光反射至所述第一光探测器,所述第二光探测器接收所述被检测光纤的包层的输出光,所述第一光探测器与所述第二光探测器分别与所述差动放大电路连接,所述差动放大电路对所述第一光探测器以及所述第二光探测器输出的信号进行放大处理。

5.根据权利要求3或4所述的光纤损耗测量系统,其特征在于,所述光纤输出探测组件还包括光纤夹持器件,用于调整所述被检测光纤的位置。

6.根据权利要求1所述的光纤损耗测量系统,其特征在于,所述光纤输出探测组件包括积分球、光探测器、差动放大电路;

所述积分球用于对所述被检测光纤的包层进行探测,所述光探测器用于对所述纤芯进行探测,所述积分球以及所述光探测器分别与所述差动放大电路相连,所述差动放大电路对所述积分球以及所述光探测器探测的结果进行放大处理。

7.根据权利要求1所述的光纤损耗测量系统,其特征在于,所述光纤输出探测组件包括反向耦合器纤芯连接光纤、反向耦合器包层连接光纤、第一光探测器、第二光探测器和差动放大电路;

所述纤芯的输出光耦合进入所述反向耦合器纤芯连接光纤,所述第一光探测器用于对所述反向耦合器纤芯连接光纤的输出光进行探测,所述被检测光纤的包层的输出光耦合进入所述反向耦合器包层连接光纤,所述第二光探测器用于对所述反向耦合器包层连接光纤的输出光进行探测,所述第一光探测器与所述第二光探测器分别与所述差动放大电路连接,所述差动放大电路对所述第一光探测器以及所述第二光探测器输出的信号进行放大处理。

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