[发明专利]高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310614521.1 申请日: 2013-11-28
公开(公告)号: CN103592712A 公开(公告)日: 2014-02-19
发明(设计)人: 杨惠尹;陈雪;钱子勍 申请(专利权)人: 上海空间电源研究所
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20;G02B1/11
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张静洁;贾慧琴
地址: 200245 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 性能 介质 干涉 多层 tco 串联 滤光 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器,其特征在于,该滤光器包含:

     基底(10),

     设置在基底(10)第一面上的TCO膜层(20);

     设置在TCO膜层(20)上的全介质多层膜(30);及

     设置在基底(10)第二面上减反射膜层(40);

     所述的全介质多层膜(30)是由若干层高折射率介质膜与低折射率介质膜交替叠加构成。

2.如权利要求1所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器,其特征在于,所述的全介质多层膜(30)由8-50层高折射率介质膜、低折射率介质膜形成,其中,每层高折射率介质膜、低折射率介质膜的厚度为10-400nm。

3.如权利要求1或2所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器,其特征在于,所述的高折射率介质膜为Si膜;所述的低折射率介质膜为SiO2膜。

4.如权利要求1所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器,其特征在于,所述的减反射膜层(40)由若干层高折射率介质膜与低折射率介质膜交替叠加构成。

5.如权利要求4所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器,其特征在于,所述的减反射膜层(40)由4-20层高折射率介质膜与低折射率介质膜形成,其中,每层高折射率介质膜、低折射率介质膜的厚度为10-400nm ,所述的高折射率介质膜选择TiO2膜,所述的低折射率介质膜为SiO2膜。

6.一种根据权利要求1所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器的制备方法,其特征在于,该方法包含以下具体步骤:

       步骤1,在10-3Pa的真空度下,将TCO膜以蒸发法镀制在基底上;

       步骤2,对镀制好TCO膜层的基底进行退火处理得到TCO滤光器,退火温度为550℃,退火时间为20分钟;

       步骤3,将高折射率材料、低折射率材料分别放置于镀膜机内进行预熔,基底加温200℃,真空度为10-3Pa,将高折射率材料和低折射率材料蒸发起来,交替镀制在TCO滤光器表面;

        步骤4,在步骤3做好的滤光器的基底背面镀制减反射膜层,以增强可转化波段的透射率,得到全介质干涉介质膜-TCO串联滤光器。

7.如权利要求1所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器的制备方法,其特征在于,所述步骤1中,TCO膜的镀制厚度达到300nm时,镀制完成。

8.如权利要求1所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器的制备方法,其特征在于,所述的高折射率介质材料为Si材料;所述的低折射率介质材料为SiO2材料。

9.如权利要求1所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器的制备方法,其特征在于,在步骤3中,交替镀制每层高折射率材料层及低折射率材料层的厚度均为10~400nm,层数为8-50层。

10.如权利要求1所述的高性能全介质干涉多层膜-TCO串联型滤光器的制备方法,其特征在于,在步骤4中,所述的减反射膜层由4~20层高折射率介质层及低折射率介质层交替镀制形成,其中,每层高折射率介质膜、低折射率介质膜的厚度为10-400nm。

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