[发明专利]一种检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法有效

专利信息
申请号: 201310539873.5 申请日: 2013-11-04
公开(公告)号: CN103542794A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 杜和艳;叶青;宋志文 申请(专利权)人: 德力西电气有限公司
主分类号: G01B5/14 分类号: G01B5/14;G01B5/02
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 穆瑞丹
地址: 325604 浙江省温*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 参数 基座 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及低压电气技术领域,具体是一种检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法。

背景技术

现有的断路器、接触器等低压电气产品在制造完成后需要进行开距、超程以及同步等触头参数的检测,以确保产品质量。

其中,开距的检测需要配备相应的检具;超程的检测不但要配备卡尺或高度尺及水平尺等,同时还要准备记录纸和笔来记录每相检测的数据,再计算,而且还要单拆单量各相;而同步的检测为人工装配时将中相动触头用工具下压目测看三相是否与静触头同时接触。以上的人工测量、计算的方式,工序繁锁,人工读数和测量误差累积大,特别是针对大壳架产品的检测,其静触头拆卸很不方便,触头参数的测量既费时费力又误差大,同时还不能每台产品都检测,只能采取抽检方式,不能有效保证每台产品的触头参数均符合产品设计标准。

为此,现有技术中出现了专门用于检测开距和超程的检测装置,如中国专利文献CN201909616U公开了一种塑壳断路器的开距超程测量装置,该装置包括机架、夹具、激光测量组件、辅助插片组件、辅助插片组件的升降机构、辅助插片组件的支架及控制器,所述夹具、激光测量组件、辅助插片组件、辅助插片组件的升降机构、辅助插片组件的支架及控制器设置在机架上。再如中国专利文献CN102590740A公开了一种交流接触器开距和超程自动测试装置及方法,主要解决了现有的交流接触器在检测触头开距和超程参数时采用人工测试,存在劳动强度大、工作效率低及误差大的问题,其机架上设有自动夹具,自动夹具的一侧设有与交流接触器的各接线端相对应的检测探针组,检测探针组固定在直线往复装置上并由直线往复装置驱动其与交流接触器接通和断开;直线往复装置的安装板与滚珠丝杠相连,滚珠丝杠由伺服电机驱动,其中还设有伸入交流接触器浮动指示件的中间探针。

虽然,上述检测装置的检测精度高、误差小,但是对于断路器和接触器的生产厂家来说需要单独购买,导致生产成本大幅提高。

发明内容

为了解决以上现有技术中断路器和接触器等产品的触头参数检测,要么步骤繁琐、误差大、精确度低,要么成本高的问题,从而提供一种检测精确度较高且成本低的检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法。

为解决上述现有技术问题,本发明是通过以下技术方案实现的:

一种检测触头参数的基座,用于断路器或接触器,所述基座的内部设置有用于检测所述动触头触头参数的标记,所述标记根据所述动触头触头参数的理论值设置。

上述检测触头参数的基座中,所述标记还根据所述动触头上观测物的位置设置。

上述检测触头参数的基座中,所述标记以所述基座的底面为基准并设置于所述基座的内侧壁上。

上述检测触头参数的基座中,所述标记为标记台阶面或标记线,所述标记台阶面成型在所述基座的所述内侧壁上,所述标记线直接刻画或粘贴在所述基座的所述内侧壁上。

上述检测触头参数的基座中,所述标记包括开距参考系和/或超程参考系;所述开距参考系和所述超程参考系可设置于所述基座的相同或不同内侧壁。

上述检测触头参数的基座中,所述开距参考系包括开距理论标记;所述超程参考系包括超程理论标记。

上述检测触头参数的基座中,所述开距参考系还包括开距上标记和/或开距下标记;所述超程参考系还包括超程上标记和/或超程下标记。

上述检测触头参数的基座中,所述开距参考系包括开距上标记和开距下标记;所述超程参考系包括超程上标记和超程下标记。

上述检测触头参数的基座中,所述动触头的所述观测物为观测面、观测点或观测线。

一种上述检测触头参数的基座的制造方法,包括以下步骤,

①根据触头参数的理论值,计算出以所述基座的底面为基准时标记的设置位置;

②在所述基座的内侧壁上设置所述标记。

上述制造方法中,所述步骤①还包括,根据事先选取的动触头上观测物的位置计算出以所述基座的底面为基准时标记的设置位置。

上述制造方法中,在所述步骤②之后还包括根据所述基座上所述标记位置在动触头上相应选取观测物的步骤。

上述制造方法中,在所述步骤①之前还包括计算出触头参数的理论值的步骤。

一种采用上述检测触头参数的基座对动触头进行触头参数测量的检测方法,包括,

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