[发明专利]一种P型绝缘栅双极型晶体管结构有效

专利信息
申请号: 201310496804.0 申请日: 2013-10-22
公开(公告)号: CN103618002A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 孙伟锋;戴伟楠;杨卓;孙华芳;祝靖;陆生礼;时龙兴 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06
代理公司: 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 代理人: 王斌
地址: 214135 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 绝缘 栅双极型 晶体管 结构
【说明书】:

技术领域

发明属于功率半导体器件技术领域,涉及绝缘栅双极型晶体管(IGBT),更具体的说,涉及一种低导通电阻、高电流能力、高耐压的P型绝缘栅双极型晶体管结构。 

背景技术

当前,随着现代化和信息化时代的发展,半导体功率器件在功率变换、电能控制等领域起着越来越重要和不可替代的作用。如今,功率器件正朝着提高工作电压、增加工作电流、减小导通电阻和提高可靠性的方向发展。绝缘栅双极型晶体管(IGBT)利用电导调制效应,使其导通压降大幅降低,可作为一种有效的栅极控制开关器件,迎合了功率器件的发展方向,成为了中高压开关、中频变频器不可或缺的功率产品。 

绝缘栅双极型晶体管(IGBT)可以看作场效应晶体管(MOSFET)和双极型晶体管(BJT)的结合。传统的IGBT器件结构如图1所示,在该结构中,P+接触区8、N型基区7、P-外延层4和N+衬底2形成了类似于晶闸管的PNPN四层三结结构。其中NPN晶体管的发射极为IGBT的集电极1,接低电位;NPN管的基区和PNP管的集电区是同一个区域,即IGBT的P-外延层4;NPN管的集电区和PNP管的基区是同一个区域,即IGBT的N型基区7;PNP管的发射极为IGBT的发射极13,接高电位。在正向导通状态下, IGBT结构的MOS沟道开启,有大量空穴流入P-外延层4(即NPN管基区)。同时,IGBT的集电极(即NPN管发射极)为低电位,此时,NPN管中发射结压降超过PN结开启电压,使NPN管开启,向P-外延层4注入大量电子并流到IGBT的发射极(即NPN管集电极),其电流放大倍数可以用β表示。要降低IGBT的导通电阻,增加工作电流可以增大器件的β值。传统结构的IGBT由于P-外延层4(即NPN管基区)的宽度很宽,导致NPN管β值很小,制约了IGBT的导通电流能力。 

因而,如何在保证IGBT的耐压条件下,IGBT增加电流能力成为提升IGBT性能的一个重要关注点。 

发明内容

       本发明的目的在于提供一种P型绝缘栅双极型晶体管,能够在保证耐压的条件下,进一步降低IGBT的导通电阻,增加工作电流。同时,本发明能够提高器件的抗闩锁能力。 

       本发明技术方案如下: 

       一种P型绝缘栅双极型晶体管结构,包括兼做集电区的N型掺杂硅衬底,在N型掺杂硅衬底下方设有集电极金属,在N型掺杂硅衬底上方设有P型掺杂硅缓冲层,在P型掺杂硅缓冲层上方设有P型轻掺杂硅外延层,在P型轻掺杂硅外延层内设有N型掺杂半导体区,在N型掺杂半导体区中设有P型重掺杂半导体区和N型重掺杂半导体区,其特征在于,在P型轻掺杂硅外延层内还设有N型柱,在N型柱和P型轻掺杂硅外延层之间设有介质层,在N型柱中也设有N型重掺杂半导体区,在P型轻掺杂硅外延层上方设有栅氧化层,在栅氧化层上方设有多晶硅栅,并且,所述多晶硅栅始于介质层的上方并止于与介质层相邻的P型重掺杂半导体区的上方,在多晶硅栅上方设有氧化层,在氧化层上方设有发射极金属,P型重掺杂半导体区和N型重掺杂半导体区与发射极金属电连接。

与传统P型绝缘栅双极型晶体管相比,本发明具有如下优点: 

1、本发明结构在传统的P型绝缘栅双极型晶体管中引入N型柱,获得窄基区NPN管,增大现有绝缘栅双极型晶体管中NPN管的电流放大倍数β,达到降低IGBT导通电阻、提高工作电流的目的。下面以本发明提供的P型绝缘栅双极型晶体管为例说明本发明的工作原理:

本发明结构中N+衬底2,P型缓冲层3和N型柱5形成了NPN晶体管,和传统IGBT中由N+衬底2,P型缓冲层3,P型外延层4和N型基区7组成的NPN结构相比,本发明提供的NPN晶体管具有更窄的基区宽度,因此具有更大的放大倍数β。

在正向导通状态下,IGBT的沟道开启,有大量空穴电流经过P型外延层流到P型缓冲层,其中一部分作为窄基区NPN晶体管的基极电流。同时,IGBT的集电极1(即NPN管发射极)为低电位,此时,NPN管中发射结压降超过PN结开启电压,向P型缓冲层3注入大量电子。大量的电子通过N型柱5直接流到IGBT的发射极,从而增大了IGBT的工作电流。 

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